| 講演名 | 2022-04-26 静電容量センサの出力分布に着目したID生成手法に関する基礎検討 鍛治 秀伍(奈良先端大), 太刀掛 彩希(奈良先端大), 藤本 大介(奈良先端大), 林 優一(奈良先端大), |
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| 抄録(和) | IC内部の定電流源とA/Dコンバータにより構成された静電容量センサを用いて個体を識別することにより、外部の計測機器を用いずにプリント基板レベルの真正性を保証できる可能性が示されている。一方、静電容量センサを用いた個体識別手法は、相関値を用いた評価にとどまっておりID生成や識別性能に関しては未検討であった。そこで本稿では、静電容量センサの出力値の分布を用いたIDの生成による個体識別手法を提案する。具体的には、静電容量センサの出力値より生成されたヒストグラムから特徴点を抽出し、再現性とユニーク性が高いビットを選択することでIDを生成する。そして、事前に保存したIDと被識別対象機器から生成したIDのハミングディスタンスを計算することで同一個体を識別する。実験では、20台のマイコンボードを97.14 %の精度で個体識別できることを示す。 |
| 抄録(英) | An individual identification using a capacitance sensor configured with a constant current source and an A/D converter inside the IC shows the possibility of guaranteeing authenticity at the PCB level without external measurement equipment. However, the individual identification method had been evaluated only using correlation values of the output's histograms; the ID generation method and identification performance have not been investigated. This paper presents a method of individual identification by generating IDs using the distribution of capacitance sensor output values. Specifically, feature points are extracted from the histogram generated from the capacitance sensor output values, and ID is generated by selecting bits with high repeatability and uniqueness. Then, identify individuals by calculating the Hamming distance between the pre-stored IDs and the ID generated from the anonymous device. We used 20 microcomputer boards in the experiment, and the result showed that individual identification could be achieved with 97.14 % accuracy. |
| キーワード(和) | デバイス識別 / 製造ばらつき |
| キーワード(英) | Device identification / Process variation |
| 資料番号 | HWS2022-4 |
| 発行日 | 2022-04-19 (HWS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS |
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| 開催期間 | 2022/4/26(から1日開催) |
| 開催地（和） | 産業技術総合研究所 臨海副都心センター（別館） |
| 開催地（英） | AIST Tokyo Waterfront (Annex) |
| テーマ（和） | ハードウェアセキュリティ，一般 |
| テーマ（英） | Hardware Security, etc. |
| 委員長氏名（和） | 島崎 靖久(ルネサスエレクトロニクス) |
| 委員長氏名（英） | Yasuhisa Shimazaki(Renesas Electronics) |
| 副委員長氏名（和） | 永田 真(神戸大) / 鈴木 大輔(三菱電機) |
| 副委員長氏名（英） | Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Daisuke Suzuki(Mitsubishi Electric) |
| 幹事氏名（和） | 高橋 順子(NTT) / 藤本 大介(奈良先端大) |
| 幹事氏名（英） | Junko Takahashi(NTT) / Daisuke Fujimotoi(NAIST) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Hardware Security |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 静電容量センサの出力分布に着目したID生成手法に関する基礎検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fundamental Study on ID Generation Method Focusing on Distribution of Capacitance Sensor Output Values |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | デバイス識別 / Device identification |
| キーワード(2)（和/英） | 製造ばらつき / Process variation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 鍛治 秀伍 / Shugo Kaji |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 太刀掛 彩希 / Ayaki Tachikake |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yuichi Hayashi |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 発表年月日 | 2022-04-26 |
| 資料番号 | HWS2022-4 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | HWS-11 |
| ページ範囲 | pp.19-23(HWS), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2022-04-19 (HWS) |