| 講演名 | 2022-04-26 利用環境を考慮したディスプレイからの電磁的漏えい強度の評価 北村 圭輝(奈良先端大), 北澤 太基(奈良先端大), 藤本 大介(奈良先端大), 林 優一(奈良先端大), |
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| 抄録(和) | ディスプレイの動作に応じて放射される電磁波から画面情報を取得するTEMPEST攻撃の脅威が指摘されている。こうした情報漏えいを引き起こす機器から放射される電磁波の強度は、機器の使用場所や周辺機器の接続状況などにより変化するため、利用する環境を考慮した漏えい評価が求められる。そこで、本稿では、ラップトップPCが利用される環境を変化させ、画面情報の漏えい強度に影響を及ぼす要因を明らかにする。利用環境が情報漏えいに与える影響評価のために、本稿における実験では、受信した電磁波を振幅復調した後に特定の周波数成分を含むような画像を表示させ、その周波数のスペクトル強度を比較する。上述した評価実験の結果、漏えい強度は周辺環境によって変化することが確認でき、さらに金属板上にラップトップPCを設置した場合に特定の漏えい周波数で漏えい強度が上昇することも明らかになった。 |
| 抄録(英) | The threat of TEMPEST attack which reconstructs the screen information from the electromagnetic leakage caused by operation of display has been reported. The intensity of electromagnetic leakage from these devices is dependent on the surrounding environment, such as used place and peripheral devices. Thus, leakage intensity evaluation is required under different usage environments. In this paper, we clarify the factors that affect the leakage intensity of screen information by altering the surrounding environment of laptop PC. In this experiment, to evaluate the effect of usage environment on information leakage from laptop PC, we used a method that displays an image containing specific frequency components on amplitude demodulated wave which obtained from received electromagnetic waves and compares their spectrum intensity. As a result, we confirmed that the leakage intensity changes in the various surrounding environment. In addition, leakage intensity is increased when we put the laptop PC on a metal plate at a specific leakage frequency. |
| キーワード(和) | TEMPEST / 電磁的情報漏えい / 漏えい評価 |
| キーワード(英) | TEMPEST / EM information leakage / leakage evaluation |
| 資料番号 | HWS2022-5 |
| 発行日 | 2022-04-19 (HWS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS |
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| 開催期間 | 2022/4/26(から1日開催) |
| 開催地（和） | 産業技術総合研究所 臨海副都心センター（別館） |
| 開催地（英） | AIST Tokyo Waterfront (Annex) |
| テーマ（和） | ハードウェアセキュリティ，一般 |
| テーマ（英） | Hardware Security, etc. |
| 委員長氏名（和） | 島崎 靖久(ルネサスエレクトロニクス) |
| 委員長氏名（英） | Yasuhisa Shimazaki(Renesas Electronics) |
| 副委員長氏名（和） | 永田 真(神戸大) / 鈴木 大輔(三菱電機) |
| 副委員長氏名（英） | Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Daisuke Suzuki(Mitsubishi Electric) |
| 幹事氏名（和） | 高橋 順子(NTT) / 藤本 大介(奈良先端大) |
| 幹事氏名（英） | Junko Takahashi(NTT) / Daisuke Fujimotoi(NAIST) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Hardware Security |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 利用環境を考慮したディスプレイからの電磁的漏えい強度の評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of Electromagnetic Information Leakage Intensity from Displays under Different Usage Environment |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | TEMPEST / TEMPEST |
| キーワード(2)（和/英） | 電磁的情報漏えい / EM information leakage |
| キーワード(3)（和/英） | 漏えい評価 / leakage evaluation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 北村 圭輝 / Yoshiki Kitamura |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 北澤 太基 / Taiki Kitazawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yuichi Hayahi |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 発表年月日 | 2022-04-26 |
| 資料番号 | HWS2022-5 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | HWS-11 |
| ページ範囲 | pp.24-27(HWS), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2022-04-19 (HWS) |