| 講演名 | 2022-04-15 異なるPowered ESD試験方法による100BASE-T1の通信品質劣化への影響 中谷 透也(名工大), 矢野 佑典(名工大), 王 建青(名工大), 石田 武志(ノイズ研), |
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| 抄録(和) | 国際電気標準会議(IEC)では，車載機器内のEthernetトランシーバICに対するイミュニティの評価方法の標準化が進められ，その中でESD(Electrostatic Discharge)に対するイミュニティを評価するPowered ESD試験が要求されている．Powered ESD試験では妨害波印加方法としてESDガンが用いられるが，その再現性に懸念がある．本研究では，ESDガンの代替として放電の再現性が高いとされるTLP-HMM (Transmission line pulse-human metal model)，CR-HMM (Capacitance resistance-human metal model)を用いる可能性を検討するために，3種類のPowered ESD試験方法がそれぞれ100BASE-T1の通信品質劣化に与える影響を実験的に評価し，TLP-HMMとCR-HMMによるESDガンの代替可能性を検討した． |
| 抄録(英) | IEC (International Electrotechnical Commission) has been working on the standardization of immunity evaluation methods for Ethernet transceiver ICs in automotive equipment, and the powered ESD (Electrostatic discharge) test is required for immunity evaluation of ESD. However, there is concern about the reproducibility of the ESD-gun generated disturbance in the powered ESD test. In this study, we investigate the possibility of using TLP-HMM (Transmission line pulse-human metal model) and CR-HMM (Capacitance resistance-human metal model), that are considered to have high reproducibility of discharge, as alternatives to ESD guns. We experimentally evaluated the effects of the three different disturbance application methods on frame error rate degradation of 100BASE-T1 IC in Powered ESD test, and showed the rudimentary potential of TLP-HMM and CR-HMM as an alternative to ESD gun. |
| キーワード(和) | 車載Ethernet / 100BASE-T1 / 通信品質 / イミュニティ / powered ESD試験 / TLP |
| キーワード(英) | Vehicle ethernet / 100BASE-T1 / communication quality / immunity / powered ESD test / TLP |
| 資料番号 | EMCJ2022-2 |
| 発行日 | 2022-04-08 (EMCJ) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
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| 開催期間 | 2022/4/15(から1日開催) |
| 開催地（和） | 沖縄県市町村自治会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | EMC一般 |
| テーマ（英） | EMC |
| 委員長氏名（和） | 西方 敦博(東工大) |
| 委員長氏名（英） | Atsuhiro Nishikata(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 副委員長氏名（和） | 田島 公博(NTT-AT) |
| 副委員長氏名（英） | Kimihiro Tajima(NTT-AT) |
| 幹事氏名（和） | 林 優一(奈良先端大) / 高橋 昌義(日立) |
| 幹事氏名（英） | Yuichi Hayashi(NAIST) / Masayoshi Takahashi(Hitachi) |
| 幹事補佐氏名（和） | 松島 清人(日立) / 志田 浩義(EMCテック) / 松嶋 徹(九工大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Kiyoto Matsushima(Hitachi) / Hiroyoshi Shida(EMC Tech.) / Toru Matsushima(Kyushu Inst. of Tech.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromagnetic Compatibility |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 異なるPowered ESD試験方法による100BASE-T1の通信品質劣化への影響 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Impact of Different Powered ESD Methods on 100BASE-T1 Communication Quality Degradation |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 車載Ethernet / Vehicle ethernet |
| キーワード(2)（和/英） | 100BASE-T1 / 100BASE-T1 |
| キーワード(3)（和/英） | 通信品質 / communication quality |
| キーワード(4)（和/英） | イミュニティ / immunity |
| キーワード(5)（和/英） | powered ESD試験 / powered ESD test |
| キーワード(6)（和/英） | TLP / TLP |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 中谷 透也 / Toya Nakatani |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学(略称：名工大) Nagoya Institute of Technology(略称：NIT) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 矢野 佑典 / Yusuke Yano |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学(略称：名工大) Nagoya Institute of Technology(略称：NIT) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 王 建青 / Jianqing Wang |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学(略称：名工大) Nagoya Institute of Technology(略称：NIT) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 石田 武志 / Takeshi Ishida |
| 第 4 著者 所属（和/英） | ㈱ノイズ研究所(略称：ノイズ研) NOISE LABORATORY CO.LTD.(略称：NoiseKen) |
| 発表年月日 | 2022-04-15 |
| 資料番号 | EMCJ2022-2 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | EMCJ-4 |
| ページ範囲 | pp.7-12(EMCJ), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2022-04-08 (EMCJ) |