講演名 2022-04-15
車載機器の電子素子に対するTLP-HMMとESDガンの代替可能性の検討
伊藤 裕範(名工大), 矢野 佑典(名工大), 王 建青(名工大), 石田 武志(ノイズ研),
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抄録(和) 自動車の多機能化によって車載機器回路および通信方式が高度化しており, 電子機器からの不要電磁波の発生および外来電磁波による車載機器の誤動作の可能性が高まっている. 特に高速通信のノイズ対策に使用される電子素子であるCMC (Common mode choke) およびESD (Electrostatic Discharge) 保護素子に対する電磁両立性 (EMC : Electromagnetic compatibility) 評価の重要性が増加している. CMCとESD保護素子に対するESDダメージ評価の方法はそれぞれIEC 62228-5 Annex EおよびIEC 62228-5 Annex Fとして標準化が規定されているが, そこに記載されているESDガンを用いたESDダメージ試験の再現性が懸念されている. このような背景から, 本研究では再現性の良い放電を行えるTLP-HMM (Transmission line pulser-Human metal model) のESDガン代替可能性についてESDダメージ評価の観点から検討を行った. その結果, 試験前後のSパラメータの変化からは両者の相関があまり見られず, 各周波数におけるダメージ試験前後のSパラメータの変化の評価基準達成率の観点で見た場合も, $S_cd21$とESD保護素子の$S_dd11$において有意差が確認された. これは工夫なしでの代替は困難であることを示唆している.
抄録(英) The importance of electromagnetic compatibility (EMC) evaluation for in-vehicle electronic devices used for noise suppression is increasing. The methods of electrostatic discharge (ESD) damage evaluation for common mode choke (CMC) and ESD suppression devices have been standardized as IEC 62228-5 Annex E and IEC 62228-5 Annex F, respectively. However, there is a concern about the reproducibility of the ESD damage test using the ESD gun described therein. Against this background, we investigated the possibility of replacing the ESD gun with transmission line pulser-human metal model (TLP-HMM) for ESD damage evaluation. As a result, there is not much correlation between them from the changes in the S-parameters before and after the damage test. Moreover, from the viewpoint of the evaluation standard achievement rate of the changes in the S-parameters before and after the damage test at each frequency, there are significant differences in $S_dd11$ of the ESD suppression device and $S_cd21$. This result suggests difficulty of replacing the ESD gun with TLP-HMM without ingenuity.
キーワード(和) コモンモードチョーク / ESD保護素子 / ESDガン / TLP-HMM / ダメージ試験
キーワード(英) Common mode choke / ESD suppression device / ESD gun / TLP-HMM / damage test
資料番号 EMCJ2022-1
発行日 2022-04-08 (EMCJ)

研究会情報
研究会 EMCJ
開催期間 2022/4/15(から1日開催)
開催地(和) 沖縄県市町村自治会館
開催地(英)
テーマ(和) EMC一般
テーマ(英) EMC
委員長氏名(和) 西方 敦博(東工大)
委員長氏名(英) Atsuhiro Nishikata(Tokyo Inst. of Tech.)
副委員長氏名(和) 田島 公博(NTT-AT)
副委員長氏名(英) Kimihiro Tajima(NTT-AT)
幹事氏名(和) 林 優一(奈良先端大) / 高橋 昌義(日立)
幹事氏名(英) Yuichi Hayashi(NAIST) / Masayoshi Takahashi(Hitachi)
幹事補佐氏名(和) 松島 清人(日立) / 志田 浩義(EMCテック) / 松嶋 徹(九工大)
幹事補佐氏名(英) Kiyoto Matsushima(Hitachi) / Hiroyoshi Shida(EMC Tech.) / Toru Matsushima(Kyushu Inst. of Tech.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Electromagnetic Compatibility
本文の言語 JPN
タイトル(和) 車載機器の電子素子に対するTLP-HMMとESDガンの代替可能性の検討
サブタイトル(和)
タイトル(英) Possibility Investigation of Replacing ESD Gun with TLP-HMM for Electronic Elements of Automotive Equipment
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) コモンモードチョーク / Common mode choke
キーワード(2)(和/英) ESD保護素子 / ESD suppression device
キーワード(3)(和/英) ESDガン / ESD gun
キーワード(4)(和/英) TLP-HMM / TLP-HMM
キーワード(5)(和/英) ダメージ試験 / damage test
第 1 著者 氏名(和/英) 伊藤 裕範 / Hironori Ito
第 1 著者 所属(和/英) 名古屋工業大学(略称:名工大)
Nagoya Institute of Technology(略称:NIT)
第 2 著者 氏名(和/英) 矢野 佑典 / Yusuke Yano
第 2 著者 所属(和/英) 名古屋工業大学(略称:名工大)
Nagoya Institute of Technology(略称:NIT)
第 3 著者 氏名(和/英) 王 建青 / Jianqing Wang
第 3 著者 所属(和/英) 名古屋工業大学(略称:名工大)
Nagoya Institute of Technology(略称:NIT)
第 4 著者 氏名(和/英) 石田 武志 / Takeshi Ishida
第 4 著者 所属(和/英) ㈱ノイズ研究所(略称:ノイズ研)
NOISE LABORATORY CO., LTD.(略称:NoiseKen)
発表年月日 2022-04-15
資料番号 EMCJ2022-1
巻番号(vol) vol.122
号番号(no) EMCJ-4
ページ範囲 pp.1-6(EMCJ),
ページ数 6
発行日 2022-04-08 (EMCJ)