| 講演名 | 2022-03-01 CapsNetを用いた多重欠陥ウェハマップ不良パターンの分類に関する一考察 藤田 樹(都立大), 新井 雅之(日大), 松田 忠勝(日大), 永村 美一(都立大), 福本 聡(都立大), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | DC2021-78 |
| 発行日 | 2022-02-22 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
|---|---|
| 開催期間 | 2022/3/1(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) |
| 委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 土屋 達弘(阪大) |
| 副委員長氏名（英） | Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) |
| 幹事氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN-ONLY |
| タイトル（和） | CapsNetを用いた多重欠陥ウェハマップ不良パターンの分類に関する一考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 藤田 樹 / Itsuki Fujita |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京都立大学(略称：都立大) Tokyo Metropolitan University(略称：Tokyo Metro. Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 新井 雅之 / Masayuki Arai |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 松田 忠勝 / Tadakatsu Matsuda |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 永村 美一 / Yoshikazu Nagamura |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東京都立大学(略称：都立大) Tokyo Metropolitan University(略称：Tokyo Metro. Univ.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 福本 聡 / Satoshi Fukumoto |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 東京都立大学(略称：都立大) Tokyo Metropolitan University(略称：Tokyo Metro. Univ.) |
| 発表年月日 | 2022-03-01 |
| 資料番号 | DC2021-78 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | DC-388 |
| ページ範囲 | pp.81-86(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2022-02-22 (DC) |