| 講演名 | 2022-03-01 SATを用いた遅延故障BIST向けLFSRシード生成法 岩本 岬汰郎(大分大), 大竹 哲史(大分大), |
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| 抄録(和) | LFSRを用いたLSIのBISTにおいて，ランダムパターン耐性故障を検出するシードを求めるニーズがある．これまでに，ATPGにより直接シードを生成する1パスシード生成法が提案されており，従来の一旦ATPGでスキャンテストを求めてからシードへ変換する2パスシード生成法におけるシード変換の失敗を回避することができる．しかし，LFSRの機能に基づいてATPGを制約する1パスシード生成モデルの複雑さのため，依然として商用ATPGが妥当な時間で十分な故障検出率を達成できないという問題がある．本稿では，近年ATPGの高速化で定評のあるSATを用いることができるようにこの1パスシード生成モデルを拡張し，遅延故障に対してSATを用いたLFSRシード生成法を提案する．ITC'99ベンチマーク回路を使用した実験により，提案法がランダムパターン耐性故障に対して完全な故障検出効率を達成することを示す． |
| 抄録(英) | So far, a one-pass LFSR seed generation method for delay fault BIST has been proposed. The method directly generates seeds by using ATPG and avoids unsuccessful encoding of conventional two-pass generation methods. However, there is a problem that a commercial ATPG cannot achieve acceptable fault coverage with reasonable time because of the complexity of the one-pass seed generation model which constrains ATPG based on LFSR functionality. In this paper, the one-pass seed generation model is extended so that it can be applied to SAT-based ATPG, and an LFSR seed generation method using SAT-based ATPG for delay faults is proposed. The effectiveness of the proposed method is evaluated through experiments using the ITC'99 benchmark circuits. The results show that the proposed method achieves complete fault efficiency for random pattern resistant faults. |
| キーワード(和) | SATベースATPG / ScanベースBIST / LFSR / シード生成 / 遅延故障テスト |
| キーワード(英) | SAT-based ATPG / scan based BIST / LFSR / seed generation / delay fault testing |
| 資料番号 | DC2021-74 |
| 発行日 | 2022-02-22 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2022/3/1(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) |
| 委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 土屋 達弘(阪大) |
| 副委員長氏名（英） | Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) |
| 幹事氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | SATを用いた遅延故障BIST向けLFSRシード生成法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | SAT-based LFSR Seed Generation for Delay Fault BIST |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | SATベースATPG / SAT-based ATPG |
| キーワード(2)（和/英） | ScanベースBIST / scan based BIST |
| キーワード(3)（和/英） | LFSR / LFSR |
| キーワード(4)（和/英） | シード生成 / seed generation |
| キーワード(5)（和/英） | 遅延故障テスト / delay fault testing |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 岩本 岬汰郎 / Kotaro Iwamoto |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大分大学(略称：大分大) Oita University(略称：Oita Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 大竹 哲史 / Satoshi Ohtake |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 大分大学(略称：大分大) Oita University(略称：Oita Univ.) |
| 発表年月日 | 2022-03-01 |
| 資料番号 | DC2021-74 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | DC-388 |
| ページ範囲 | pp.57-62(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2022-02-22 (DC) |