講演名 2022-03-04
光ファイバによるファブリ・ペロー干渉計を用いた微小変位検出
深堀 武琉(千葉工大), 森 優也(千葉工大), 長瀬 亮(千葉工大),
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抄録(和)
抄録(英)
キーワード(和)
キーワード(英)
資料番号 EMD2021-23
発行日 2022-02-25 (EMD)

研究会情報
研究会 EMD
開催期間 2022/3/4(から1日開催)
開催地(和) オンライン開催(ハイブリッド開催から変更)
開催地(英) Online
テーマ(和) ショートノート(卒論・修論特集)
テーマ(英) Short NOTE
委員長氏名(和) 萓野 良樹(電通大)
委員長氏名(英) Yoshiki Kayano(Univ. of Electro-Comm.)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和) 上野 貴博(日本工大)
幹事氏名(英) Takahiro Ueno(Nippon Inst. of Tech.)
幹事補佐氏名(和) 林 優一(奈良先端大) / 宮永 和明(富士通コンポーネント)
幹事補佐氏名(英) Yuichi Hayashi(NAIST) / Kazuaki Miyanaga(Fujitsu Component)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Electromechanical Devices
本文の言語 JPN
タイトル(和) 光ファイバによるファブリ・ペロー干渉計を用いた微小変位検出
サブタイトル(和)
タイトル(英) Micro displacement sensing technique using Fabry-Perot interferometer with optical fibers
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英)
第 1 著者 氏名(和/英) 深堀 武琉 / Takeru Fukahori
第 1 著者 所属(和/英) 千葉工業大学(略称:千葉工大)
Chiba Institute of Technology(略称:CIT)
第 2 著者 氏名(和/英) 森 優也 / Yuya Mori
第 2 著者 所属(和/英) 千葉工業大学(略称:千葉工大)
Chiba Institute of Technology(略称:CIT)
第 3 著者 氏名(和/英) 長瀬 亮 / Ryo Nagase
第 3 著者 所属(和/英) 千葉工業大学(略称:千葉工大)
Chiba Institute of Technology(略称:CIT)
発表年月日 2022-03-04
資料番号 EMD2021-23
巻番号(vol) vol.121
号番号(no) EMD-405
ページ範囲 pp.48-51(EMD),
ページ数 4
発行日 2022-02-25 (EMD)