講演名 2022-03-01
ニューラルネットワークと故障検出情報を用いたマルチサイクルキャプチャテストにおける論理故障に関する欠陥種類推定法
太田 菜月(日大), 細川 利典(日大), 山崎 浩二(明大), 新井 雅之(日大), 山内 ゆかり(日大),
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抄録(和)
抄録(英)
キーワード(和)
キーワード(英)
資料番号 DC2021-77
発行日 2022-02-22 (DC)

研究会情報
研究会 DC
開催期間 2022/3/1(から1日開催)
開催地(和) 機械振興会館
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg.
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般
テーマ(英)
委員長氏名(和) 高橋 寛(愛媛大)
委員長氏名(英) Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.)
副委員長氏名(和) 土屋 達弘(阪大)
副委員長氏名(英) Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.)
幹事氏名(和) 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大)
幹事氏名(英) Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Dependable Computing
本文の言語 JPN
タイトル(和) ニューラルネットワークと故障検出情報を用いたマルチサイクルキャプチャテストにおける論理故障に関する欠陥種類推定法
サブタイトル(和)
タイトル(英) An Estimation Method of Defect Types for Multi-cycle Capture Testing Using Artificial Neural Networks and Fault Detection Information
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英)
第 1 著者 氏名(和/英) 太田 菜月 / Natsuki Ota
第 1 著者 所属(和/英) 日本大学(略称:日大)
Nihon University(略称:Nihon Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa
第 2 著者 所属(和/英) 日本大学(略称:日大)
Nihon University(略称:Nihon Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) 山崎 浩二 / Koji Yamazaki
第 3 著者 所属(和/英) 明治大学(略称:明大)
Meiji University(略称:Meiji Univ.)
第 4 著者 氏名(和/英) 新井 雅之 / Masayuki Arai
第 4 著者 所属(和/英) 日本大学(略称:日大)
Nihon University(略称:Nihon Univ.)
第 5 著者 氏名(和/英) 山内 ゆかり / Yukari Yamauchi
第 5 著者 所属(和/英) 日本大学(略称:日大)
Nihon University(略称:Nihon Univ.)
発表年月日 2022-03-01
資料番号 DC2021-77
巻番号(vol) vol.121
号番号(no) DC-388
ページ範囲 pp.75-80(DC),
ページ数 6
発行日 2022-02-22 (DC)