| 講演名 | 2022-03-10 AIによるLSI レイアウト上の欠陥検出のための新しい欠陥モデルの検討 川口 大樹(都立大), 藤田 樹(都立大), 永村 美一(都立大), 新井 雅之(日大), 福本 聡(都立大), |
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| 抄録(和) | 現在，半導体集積回路は様々な製品やシステムの構成に必要不可欠な存在であり，その信頼性を確保することは重要である．本研究では，LSIの回路レイアウトに起因する不良を予測，特定することを目的としてAI技術を用いて回路レイアウトを解析する手法について検討している．今回は，欠陥発生の危険性の有無を畳み込みニューラルネットワークで推定するために，特定の特徴を持つレイアウト図形(配線パターン)とその周囲の回路レイアウトの構造に起因して欠陥が発生するモデルを検討した． |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | LSI / 半導体 / 画像分類 / CNN |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | CPSY2021-55,DC2021-89 |
| 発行日 | 2022-03-03 (CPSY, DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY / DC / IPSJ-SLDM / IPSJ-EMB / IPSJ-ARC |
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| 開催期間 | 2022/3/10(から2日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | 組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2022 |
| テーマ（英） | ETNET2021 |
| 委員長氏名（和） | 鯉渕 道紘(NII) / 高橋 寛(愛媛大) / 中村 祐一(NEC) / / 井上 弘士(九大) |
| 委員長氏名（英） | Michihiro Koibuchi(NII) / Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) / Yuichi Nakamura(NEC) / / Hiroshi Inoue(Kyushu Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 中島 耕太(富士通研) / 津邑 公暁(名工大) / 土屋 達弘(阪大) |
| 副委員長氏名（英） | Kota Nakajima(Fujitsu Lab.) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) / Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 井口 寧(北陸先端大) / 小川 周吾(日立) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 瀬戸 謙修(東京都市大) / 川村 一志(東工大) / 廣本 正之(富士通) / 細田 浩希(ソニーLSIデザイン) / / 近藤 正章(東大) / 塩谷 亮太(名大) / 田中 美帆(富士通研) / 長谷川 揚平(東芝メモリ) |
| 幹事氏名（英） | Yasushi Inoguchi(JAIST) / Shugo Ogawa(Hitachi) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Kenshu Seto(Tokyo City Univ.) / Kazushi Kawamura(Tokyo Inst. of Tech.) / Masayuki Hiromoto(Fujitsu) / Hiroki Hosoda(Sony LSI Design) / / Masaaki Kondo(Univ. of Tokyo) / Ryota Shioya(Nagoya Univ.) / Miho Tanaka(Fujitsu Labs.) / Yohei Hasegawa(Toshiba Memory) |
| 幹事補佐氏名（和） | 小林 諒平(筑波大) / 宮島 敬明(明大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Ryohei Kobayashi(Tsukuba Univ.) / Takaaki Miyajima(Meiji Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Dependable Computing / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology / Special Interest Group on Embedded Systems / Special Interest Group on System Architecture |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | AIによるLSI レイアウト上の欠陥検出のための新しい欠陥モデルの検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | LSI |
| キーワード(2)（和/英） | 半導体 |
| キーワード(3)（和/英） | 画像分類 |
| キーワード(4)（和/英） | CNN |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 川口 大樹 / Hiroki Kawaguchi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京都立大学(略称：都立大) Tokyo Metropolitan University(略称：Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 藤田 樹 / Itsuki Fujita |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京都立大学(略称：都立大) Tokyo Metropolitan University(略称：Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 永村 美一 / Yoshikazu Nagamura |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東京都立大学(略称：都立大) Tokyo Metropolitan University(略称：Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 新井 雅之 / Masayuki Arai |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 福本 聡 / Satoshi Fukumoto |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 東京都立大学(略称：都立大) Tokyo Metropolitan University(略称：Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 発表年月日 | 2022-03-10 |
| 資料番号 | CPSY2021-55,DC2021-89 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | CPSY-425,DC-426 |
| ページ範囲 | pp.61-66(CPSY), pp.61-66(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2022-03-03 (CPSY, DC) |