| 講演名 | 2022-01-28 フロート充電と部分放電によるリチウムイオン電池の劣化試験及び劣化要因解析 高橋 慶多(NTTファシリティーズ), 尾宮 哲也(東工大), 池澤 篤憲(東工大), 米村 雅雄(KEK), 齊藤 高志(KEK), 神山 崇(KEK), 斉藤 景一(NTTファシリティーズ), 荒井 創(東工大), |
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| 抄録(和) | 通信バックアップ用にフロート充電されたリチウムイオン電池の劣化メカニズム及び，フロート充電と放電を繰り返した場合の電池寿命への影響は詳細が明らかとされていない．本発表ではフロート充電と30％放電を組合せた劣化試験を実施し，劣化メカニズムをOperando中性子回折を用い分析した結果を報告する． |
| 抄録(英) | In order to investigate degradation of lithium-ion batteries during float charging with partial discharging, we conducted operando neutron diffractions. |
| キーワード(和) | リチウムイオン電池 / フロート充電 / 劣化要因解析 |
| キーワード(英) | Lithium-ion batteries / Float charging / Degradation analysis |
| 資料番号 | EE2021-51 |
| 発行日 | 2022-01-20 (EE) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EE |
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| 開催期間 | 2022/1/27(から2日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | 回路技術及び高効率エネルギー変換技術関連、一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 末次 正(福岡大) |
| 委員長氏名（英） | Tadashi Suetsugu(Fukuoka Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 関屋 大雄(千葉大) / 廣瀬 圭一(NTTファシリティーズ) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroo Sekiya(Chiba Univ.) / Keiichi Hirose(NTT Facilities) |
| 幹事氏名（和） | 坂井 栄治(崇城大) / 松井 信正(長崎総科大) |
| 幹事氏名（英） | Eiji Sakai(Sojo Univ.) / Nobumasa Matsui(Nagasaki Inst. of Applied Science) |
| 幹事補佐氏名（和） | 米澤 遊(名大) / 古川 雄大(福岡大学) / 湯淺 一史(NTTファシリティーズ) |
| 幹事補佐氏名（英） | Yuu Yonezawa(Nagoya Univ.) / Yudai Furukawa(Fukuoka Univ.) / Kazufumi Yuasa(NTT Facilities) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Energy Engineering in Electronics and Communications |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | フロート充電と部分放電によるリチウムイオン電池の劣化試験及び劣化要因解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Degradation analysis of lithium-ion batteries during float charging with partial discharging |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | リチウムイオン電池 / Lithium-ion batteries |
| キーワード(2)（和/英） | フロート充電 / Float charging |
| キーワード(3)（和/英） | 劣化要因解析 / Degradation analysis |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 高橋 慶多 / Keita Takahashi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | NTTファシリティーズ(略称：NTTファシリティーズ) NTT Facilities(略称：NTT Facilities) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 尾宮 哲也 / Tetsuya Omiya |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京工業大学(略称：東工大) Tokyo Institute of Technology(略称：Tokyo Tech) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 池澤 篤憲 / Atsunori Ikezawa |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東京工業大学(略称：東工大) Tokyo Institute of Technology(略称：Tokyo Tech) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 米村 雅雄 / Masao yonemura |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 高エネルギー加速器研究機構(略称：KEK) High Energy Accelerator Research Organization(略称：KEK) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 齊藤 高志 / Takashi Saito |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 高エネルギー加速器研究機構(略称：KEK) High Energy Accelerator Research Organization(略称：KEK) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 神山 崇 / Satoshi Kamiyama |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 高エネルギー加速器研究機構(略称：KEK) High Energy Accelerator Research Organization(略称：KEK) |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 斉藤 景一 / Keiichi Saito |
| 第 7 著者 所属（和/英） | NTTファシリティーズ(略称：NTTファシリティーズ) NTT Facilities(略称：NTT Facilities) |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 荒井 創 / Hajime Arai |
| 第 8 著者 所属（和/英） | 東京工業大学(略称：東工大) Tokyo Institute of Technology(略称：Tokyo Tech) |
| 発表年月日 | 2022-01-28 |
| 資料番号 | EE2021-51 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | EE-359 |
| ページ範囲 | pp.112-116(EE), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2022-01-20 (EE) |