講演名 2022-01-28
体積—境界要素結合解析を用いた遠方散乱界による誘電体凹凸表面下部の屈折率分布推定法
杉坂 純一郎(北見工大), 原田 建治(北見工大), 平山 浩一(北見工大),
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抄録(和) 凹凸を有する誘電体に埋もれた欠陥を光や電波の散乱波から推定する技術は,光学・半導体素子,建築材や土壌の検査等,様々な分野への応用が期待される.本研究では,体積—境界要素結合解析を用いた推定処理を提案する.この手法では,屈折率境界が明瞭な領域については境界の離散化のみで計算でき,演算量が多くなる体積積分項を最小限に抑えることができる.屈折率の推定法については歪みBorn近似とNewton-Raphson法を比較し,より効率的な解法について議論する.欠陥形状を遠方散乱界から推定する数値シミュレーションも行い,推定精度とノイズ耐性について検証する.
抄録(英) Reconstruction of the defect shape under a rough dielectric surface from the scattered wave can be applied to detect a buried defect in a glass substrate, semiconductor wafer, concrete, and soil. In this study, we applied the coupling analysis of boundary and volume integral equation methods. We propose two reconstruction processes applying the distorted-wave Born approximation and the Newton-Raphson method, and we discuss the accuracy and efficiency. Finally, we present some results of the reconstruction simulation, including the noise tolerance.
キーワード(和) 逆散乱解析 / 境界積分法 / 体積積分法 / 歪みBorn近似
キーワード(英) Inverse scattering analysis / Boundary-integral method / Volume-integral method / Distorted-wave Born approximation
資料番号 PN2021-47,EMT2021-63,MWP2021-52
発行日 2022-01-20 (PN, EMT, MWP)

研究会情報
研究会 PN / MWP / EMT / IEE-EMT
開催期間 2022/1/27(から2日開催)
開催地(和) 京都大学 楽友会館
開催地(英) Rakuyu-Kaikan
テーマ(和) フォトニックNW・デバイス、フォトニック結晶、ファイバとその応用、光集積回路、光導波路素子、光スイッチング、導波路解析、マイクロ波・ミリ波フォトニクス、及び一般
テーマ(英)
委員長氏名(和) 古川 英昭(NICT) / 枚田 明彦(千葉工大) / 出口 博之(同志社大)
委員長氏名(英) Hideaki Furukawa(NICT) / Akihiko Hirata(Chiba Inst. of Tech.) / Hiroyuki Deguchi(Doshisha Univ.)
副委員長氏名(和) 塩本 公平(東京都市大) / 杉崎 隆一(古河電工) / 吉兼 昇(KDDI総合研究所) / 菅野 敦史(NICT) / 川口 秀樹(室蘭工大)
副委員長氏名(英) Kohei Shiomoto(Tokyo City Univ.) / Ryuichi Sugizaki(Furukawa Electric) / Noboru Yoshikane(KDDI Research) / Atsushi Kanno(NICT) / Hideki Kawaguchi(Muroran Inst. of Tech)
幹事氏名(和) 中川 雅弘(NTT) / 松浦 基晴(電通大) / 相葉 孝充(矢崎総業) / 池田 研介(電中研) / 中 良弘(宮崎大) / 山本 伸一(三菱電機)
幹事氏名(英) Masahiro Nakagawa(NTT) / Motoharu Matsuura(Univ. of Electr-Comm.) / Takamitsu Aiba(Yazaki) / Kensuke Ikeda(CRIEPI) / Yoshihiro Naka(Miyazaki Univ.) / Shinichi Yamamoto(Mitsubishi Electric)
幹事補佐氏名(和) 石井 健二(三菱電機) / 森 洋二郎(名大) / 易 利(阪大) / 山口 祐也(NICT) / 新納 和樹(京大)
幹事補佐氏名(英) Kenji Ishii(Mitsubishi Electric) / Yojiro Mori(Nagoya Univ.) / Li Yi(Osaka Univ.) / Yuya Yamaguchi(NICT) / Kazuki Niino(Kyoto Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Photonic Network / Technical Committee on Microwave and Millimeter-wave Photonics / Technical Committee on Electromagnetic Theory / Technical Meeting on Electromagnetic Theory
本文の言語 JPN
タイトル(和) 体積—境界要素結合解析を用いた遠方散乱界による誘電体凹凸表面下部の屈折率分布推定法
サブタイトル(和)
タイトル(英) Estimation of refractive-index distribution under dielectric rough surface from the scattered far field using coupling analysis with volume and boundary elements
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 逆散乱解析 / Inverse scattering analysis
キーワード(2)(和/英) 境界積分法 / Boundary-integral method
キーワード(3)(和/英) 体積積分法 / Volume-integral method
キーワード(4)(和/英) 歪みBorn近似 / Distorted-wave Born approximation
第 1 著者 氏名(和/英) 杉坂 純一郎 / Jun-ichiro Sugisaka
第 1 著者 所属(和/英) 北見工業大学(略称:北見工大)
Kitami Institute of Technology(略称:Kitami Inst. Tech.)
第 2 著者 氏名(和/英) 原田 建治 / Kenji Harada
第 2 著者 所属(和/英) 北見工業大学(略称:北見工大)
Kitami Institute of Technology(略称:Kitami Inst. Tech.)
第 3 著者 氏名(和/英) 平山 浩一 / Koichi Hirayama
第 3 著者 所属(和/英) 北見工業大学(略称:北見工大)
Kitami Institute of Technology(略称:Kitami Inst. Tech.)
発表年月日 2022-01-28
資料番号 PN2021-47,EMT2021-63,MWP2021-52
巻番号(vol) vol.121
号番号(no) PN-350,EMT-351,MWP-352
ページ範囲 pp.79-84(PN), pp.79-84(EMT), pp.79-84(MWP),
ページ数 6
発行日 2022-01-20 (PN, EMT, MWP)