| 講演名 | 2021-12-10 低消費電力指向多重目標故障テスト生成法 三浦 怜(日大), 細川 利典(日大), 山崎 紘史(日大), 吉村 正義(京都産大), 新井 雅之(日大), |
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| 抄録(和) | 近年，超大規模集積回路の実速度テスト時におけるキャプチャ消費電力の増大に伴い，低消費電力指向テスト生成手法が提案されている．従来手法では， 自動テスト生成ツール によって生成された初期テスト集合中のキャプチャ消費電力値が閾値以下であるキャプチャセーフテストベクトルに対してドントケア判定を行い，キャプチャアンセーフテストベクトルでのみ検出が可能なアンセーフ故障を検出できるようにドントケア割当てを行うことでキャプチャアンセーフテストベクトル数とアンセーフ故障数を削減した．しかしながら，従来手法において，ドントケア割当てによって検出されるアンセーフ故障数は，キャプチャセーフテストキューブのケアビット箇所に依存し,アンセーフ故障数が効率的に削減できない場合がある．それゆえ，テストベクトル数が初期テスト集合よりも増加する可能性がある． 本論文では 小さなキャプチャセーフテスト集合を生成するために，初期テスト集合の同時検出可能情報を利用した疑似ブール最適化ベース低消費電力指向多重目標故障テスト生成法を提案する．実験結果では，低消費電力が考慮された初期テスト集合と比較して，提案手法は，キャプチャアンセーフテストベクトル数を平均100%，アンセーフ故障数を98%削減することができたことを示す． |
| 抄録(英) | In recent years, since capture power consumption for VLSIs significantly increases in at-speed scan testing, low capture power-oriented test generation methods have been proposed. In the conventional method, a test set is generated using automatic test pattern generators, don't care (X) identification is performed for only capture-safe test vectors in the test set whose capture power consumption is less than or equal to the threshold values. X-filling is performed for capture-safe test cubes in order to detect unsafe faults which are detected only by capture-unsafe test vectors. The numbers of capture-unsafe test vectors and unsafe faults were reduced by the X-filling method. However, in the conventional method, since the number of unsafe faults detected by the X-filling depends on the care bit locations of capture-safe test cubes, the number of unsafe faults might not be efficiently reduced. Therefore, the numbers of capture-safe test vectors might be larger than those of the initial test set. In this paper, to generate a small capture-safe test set, we propose a pseudo-Boolean optimization based low capture power oriented multiple target fault test generation method using the information of simultaneously detectable safe faults by capture-safe test cubes in the initial test set. The experimental results show that our proposed method could reduce the number of capture-unsafe test vectors by 100% and reduce the number of unsafe faults by 98% on the average compared to the initial test set with low power consideration. |
| キーワード(和) | 多重目標故障テスト生成 / キャプチャセーフテストベクトル / アンセーフ故障 / PBO |
| キーワード(英) | multiple target test generation / capture safe test vector / unsafe fault / PBO |
| 資料番号 | DC2021-55 |
| 発行日 | 2021-12-03 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2021/12/10(から1日開催) |
| 開催地（和） | 国民宿舎小豆島（ふるさと荘交流センター） |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | (第6回） Winter Workshop on Safety（安全性に関する冬のワークショップ） - （共催：日本信頼性学会) |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) |
| 委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 土屋 達弘(阪大) |
| 副委員長氏名（英） | Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) |
| 幹事氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 低消費電力指向多重目標故障テスト生成法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Low Power Oriented Multiple Target Test Generation Method |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 多重目標故障テスト生成 / multiple target test generation |
| キーワード(2)（和/英） | キャプチャセーフテストベクトル / capture safe test vector |
| キーワード(3)（和/英） | アンセーフ故障 / unsafe fault |
| キーワード(4)（和/英） | PBO / PBO |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 三浦 怜 / Rei Miura |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 京都産業大学(略称：京都産大) Kyoto Sangyou University(略称：Kyoto Sangyou Univ.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 新井 雅之 / Masayuki Arai |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 発表年月日 | 2021-12-10 |
| 資料番号 | DC2021-55 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | DC-293 |
| ページ範囲 | pp.1-6(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2021-12-03 (DC) |