| 講演名 | 2021-12-10 レジスタ転送レベルにおけるSAT攻撃とFALL攻撃に耐性のある論理暗号化手法 辻川 敦也(日大), 細川 利典(日大), 吉村 正義(京都産大), |
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| 抄録(和) | 近年，大規模化に伴いVLSIを設計会社1社のみで設計を行うのが困難になり，IPベンダよりIPコアを購入し必要な部分のみを設計する手法を用いている．一方，IPコアは著作権侵害を容易に行えるという欠点を持つため，論理暗号化を施す必要がある．しかしながら，機能的論理暗号化手法TTLockはSAT攻撃には耐性があるが，FALL攻撃に脆弱である．また，ゲートレベルでTTLockに基づいて論理暗号化を施すのは困難である．それゆえ，本論文ではレジスタ転送レベルにおいてSAT攻撃とFALL攻撃に耐性のある論理暗号化手法を提案する． |
| 抄録(英) | In recent years, to meet strict time-to-market constraints, it has become difficult for only one semiconductor design company to design a VLSI. Thus, design companies purchase IP cores from third-party IP vendors and design only the necessary parts. On the other hand, since IP cores have the disadvantage that copyright infringement can be easily performed, logic locking has to applied to them. However, functional logic locking method using TTLock are resilient to SAT attack, however vulnerable to FALL attacks. Additionally, it is difficult to design logic locking based on TTLock at gate level. In this paper, we propose a logic locking method based on SAT attack and FALL attacks resistance at register transfer level. |
| キーワード(和) | 論理暗号化 / レジスタ転送レベル / TTLock / SAT攻撃 / FALL攻撃 / セキュア設計 |
| キーワード(英) | Logic Locking / Register Transfer Level / TTLock / SAT Attack / FALL Attacks / Design for Security |
| 資料番号 | DC2021-57 |
| 発行日 | 2021-12-03 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2021/12/10(から1日開催) |
| 開催地（和） | 国民宿舎小豆島（ふるさと荘交流センター） |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | (第6回） Winter Workshop on Safety（安全性に関する冬のワークショップ） - （共催：日本信頼性学会) |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) |
| 委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 土屋 達弘(阪大) |
| 副委員長氏名（英） | Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) |
| 幹事氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | レジスタ転送レベルにおけるSAT攻撃とFALL攻撃に耐性のある論理暗号化手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A SAT and FALL Attacks Resistant Logic Locking Method at Register Transfer Level |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 論理暗号化 / Logic Locking |
| キーワード(2)（和/英） | レジスタ転送レベル / Register Transfer Level |
| キーワード(3)（和/英） | TTLock / TTLock |
| キーワード(4)（和/英） | SAT攻撃 / SAT Attack |
| キーワード(5)（和/英） | FALL攻撃 / FALL Attacks |
| キーワード(6)（和/英） | セキュア設計 / Design for Security |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 辻川 敦也 / Atsuya Tsujikawa |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 京都産業大学(略称：京都産大) Kyoto Sangyo University(略称：Kyoto Sangyo Univ.) |
| 発表年月日 | 2021-12-10 |
| 資料番号 | DC2021-57 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | DC-293 |
| ページ範囲 | pp.13-18(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2021-12-03 (DC) |