講演名 | 2021-11-15 メンブレンを用いたSTJ検出器のノイズ低減に関する研究 柴﨑 太我(埼玉大/産総研), 藤井 剛(産総研), 浮辺 雅宏(産総研), 田井野 徹(埼玉大), |
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抄録(和) | 超伝導トンネル接合(STJ)検出器は、理論上半導体検出器の数十倍の高いエネルギー分解能を実現でき、SiCやGaN等の次世代省エネルギー半導体中の微量軽元素等の蛍光X線分析への利用が期待されている。しかし現行のSTJはSi基板上に直接集積されているため、高エネルギーX線がSi基板で吸収されることによって発生する信号が微量軽元素の特性X線ピークと重なることにより、微量軽元素分析が困難となっている。そこで我々は、STJ直下でのX線吸収を防止するため、STJ直下のSi基板を除去し、自立メンブレン上にSTJを集積する構造を提案した。本研究では、メンブレン形成方法を確立、及び同メンブレン上へのSTJの作製を行った。 |
抄録(英) | |
キーワード(和) | 超伝導X線検出器 / STJ検出器 / 軽元素分析 / メンブレン / 膜応力 / 裏面露光 |
キーワード(英) | |
資料番号 | SCE2021-9 |
発行日 | 2021-11-08 (SCE) |
研究会情報 | |
研究会 | SCE |
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開催期間 | 2021/11/15(から1日開催) |
開催地(和) | オンライン開催 |
開催地(英) | Online |
テーマ(和) | 超伝導エレクトロニクス一般 |
テーマ(英) | |
委員長氏名(和) | 水柿 義直(電通大) |
委員長氏名(英) | Yoshio Mizugaki(Univ. of Electro-Comm.) |
副委員長氏名(和) | |
副委員長氏名(英) | |
幹事氏名(和) | 藤井 剛(産総研) / 小野美 武(福岡工大) |
幹事氏名(英) | Go Fujii(AIST) / Takeshi Onomi(Fukuoka Inst. of Tech) |
幹事補佐氏名(和) | 赤池 宏之(大同大) |
幹事補佐氏名(英) | Hiroyuki Akaike(Daido Univ.) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on Superconductive Electronics |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | メンブレンを用いたSTJ検出器のノイズ低減に関する研究 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Noise reduction in superconducting tunnel junction detector by using membrane |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 超伝導X線検出器 |
キーワード(2)(和/英) | STJ検出器 |
キーワード(3)(和/英) | 軽元素分析 |
キーワード(4)(和/英) | メンブレン |
キーワード(5)(和/英) | 膜応力 |
キーワード(6)(和/英) | 裏面露光 |
第 1 著者 氏名(和/英) | 柴﨑 太我 / Taiga Shibasaki |
第 1 著者 所属(和/英) | 埼玉大学/産業技術総合研究所(略称:埼玉大/産総研) Saitama University/National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称:Saitama Univ./AIST) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 藤井 剛 / Go Fujii |
第 2 著者 所属(和/英) | 産業技術総合研究所(略称:産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称:AIST) |
第 3 著者 氏名(和/英) | 浮辺 雅宏 / Masahiro Ukibe |
第 3 著者 所属(和/英) | 産業技術総合研究所(略称:産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称:AIST) |
第 4 著者 氏名(和/英) | 田井野 徹 / Tohru Taino |
第 4 著者 所属(和/英) | 埼玉大学(略称:埼玉大) Saitama University(略称:Saitama Univ.) |
発表年月日 | 2021-11-15 |
資料番号 | SCE2021-9 |
巻番号(vol) | vol.121 |
号番号(no) | SCE-248 |
ページ範囲 | pp.10-14(SCE), |
ページ数 | 5 |
発行日 | 2021-11-08 (SCE) |