講演名 2021-12-01
オンチップモニタを用いたダイナミック電圧ドロップ診断
門田 和樹(神戸大), レオニダス カタセラス(アリストトゥル大), フェレンク フォーダー(IMEC), アルキス ハッツォプーロス(アリストトゥル大), 永田 真(神戸大), エリック ヤン マリニッセン(IMEC),
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キーワード(和)
キーワード(英)
資料番号 VLD2021-31,ICD2021-41,DC2021-37,RECONF2021-39
発行日 2021-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF)

研究会情報
研究会 VLD / DC / RECONF / ICD / IPSJ-SLDM
開催期間 2021/12/1(から2日開催)
開催地(和) オンライン開催
開催地(英) Online
テーマ(和) デザインガイア2021 -VLSI設計の新しい大地-
テーマ(英) Design Gaia 2021 -New Field of VLSI Design-
委員長氏名(和) 小林 和淑(京都工繊大) / 高橋 寛(愛媛大) / 佐野 健太郎(理研) / 高橋 真史(キオクシア) / 中村 祐一(NEC)
委員長氏名(英) Kazutoshi Kobayashi(Kyoto Inst. of Tech.) / Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) / Kentaro Sano(RIKEN) / Masafumi Takahashi(Kioxia) / Yuichi Nakamura(NEC)
副委員長氏名(和) 池田 奈美子(NTT) / 土屋 達弘(阪大) / 山口 佳樹(筑波大) / 泉 知論(立命館大) / 池田 誠(東大)
副委員長氏名(英) Minako Ikeda(NTT) / Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) / Yoshiki Yamaguchi(Tsukuba Univ.) / Tomonori Izumi(Ritsumeikan Univ.) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo)
幹事氏名(和) 兼本 大輔(大阪大学) / 宮村 信(NEC) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 小林 悠記(NEC) / 中原 啓貴(東工大) / 廣瀬 哲也(阪大) / 新居 浩二(TSMCデザインテクノロジージャパン) / 瀬戸 謙修(東京都市大) / 川村 一志(東工大) / 廣本 正之(富士通) / 細田 浩希(ソニーLSIデザイン)
幹事氏名(英) Daisuke Kanemoto(Osaka Univ.) / Makoto Miyamura(NEC) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Hiroki Nakahara(Tokyo Inst. of Tech.) / Tetsuya Hirose(Osaka Univ.) / Koji Nii(TSMC) / Kenshu Seto(Tokyo City Univ.) / Kazushi Kawamura(Tokyo Inst. of Tech.) / Masayuki Hiromoto(Fujitsu) / Hiroki Hosoda(Sony LSI Design)
幹事補佐氏名(和) / / 竹村 幸尚(インテル) / 長名 保範(琉球大学) / 宮地 幸祐(信州大) / 吉原 義昭(キオクシア) / 久保木 猛(九大)
幹事補佐氏名(英) / / Yukitaka Takemura(INTEL) / Yasunori Osana(Ryukyu Univ.) / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) / Yoshiaki Yoshihara(キオクシア) / Takeshi Kuboki(Kyushu Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology
本文の言語 JPN
タイトル(和) オンチップモニタを用いたダイナミック電圧ドロップ診断
サブタイトル(和)
タイトル(英) Diagnosis of Switching-Induced IR Drop by On-Chip Voltage Monitors
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英)
第 1 著者 氏名(和/英) 門田 和樹 / Kazuki
第 1 著者 所属(和/英) 神戸大学(略称:神戸大)
Monta(略称:Kobe Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) レオニダス カタセラス / Leonidas Kataselas
第 2 著者 所属(和/英) アリストトゥル大学(略称:アリストトゥル大)
Aristotle University(略称:Aristotle Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) フェレンク フォーダー / Ferenc Fodor
第 3 著者 所属(和/英) IMEC(略称:IMEC)
IMEC(略称:IMEC)
第 4 著者 氏名(和/英) アルキス ハッツォプーロス / Alkis Hatzopoulos
第 4 著者 所属(和/英) アリストトゥル大学(略称:アリストトゥル大)
Aristotle University(略称:Aristotle Univ.)
第 5 著者 氏名(和/英) 永田 真 / Makoto Nagata
第 5 著者 所属(和/英) 神戸大学(略称:神戸大)
Monta(略称:Kobe Univ.)
第 6 著者 氏名(和/英) エリック ヤン マリニッセン / Erik Jan Marinissen
第 6 著者 所属(和/英) IMEC(略称:IMEC)
IMEC(略称:IMEC)
発表年月日 2021-12-01
資料番号 VLD2021-31,ICD2021-41,DC2021-37,RECONF2021-39
巻番号(vol) vol.121
号番号(no) VLD-277,ICD-278,DC-279,RECONF-280
ページ範囲 pp.83-86(VLD), pp.83-86(ICD), pp.83-86(DC), pp.83-86(RECONF),
ページ数 4
発行日 2021-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF)