| 講演名 | 2021-12-01 デュアルモードSAR ADCを用いた電源ノイズ解析攻撃の検知手法の考案 弘原海 拓也(神戸大), 三木 拓司(神戸大), 永田 真(神戸大), |
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| 抄録(和) | IoT機器が悪意のある攻撃者の標的として脅威に晒されている。そこで、電源ラインに対する意図的な機器挿入に起因するインピーダンスの変化をオンチップモニタ回路(OCM)で取得した電源ノイズ波形から読み取ることで異常の検知及び診断を可能とするフローを提案する。65nm CMOSプロセスでテストチップを作成し、電源ラインに挿入した微小な抵抗および容量による電源ノイズ波形の変動を定量的に示し、実際の攻撃としてあり得る電圧プローブの挿入を検知出来ることを示した。 |
| 抄録(英) | Distributed IoT devices are exposed to unexpected interferences by physical accesses by malicious attackers. An on-chip noise monitor using a dual-mode ADC is developed to detect the insertion of off-chip components as malicious attempts of power noise measurement attacks. Fabricated in 65 nm CMOS, the on-chip noise monitor is examined for the detectability of series resistor, parallel capacitors and voltage probe that are intentionally inserted on power lines. |
| キーワード(和) | 電源ノイズ / サイドチャネル攻撃 / 電力解析攻撃 / 電磁界ノイズ攻撃 / ディジタル集積回路 / オンチップモニタリング |
| キーワード(英) | power supply noise / side channel attack / power noise attack / electromagnetic noise attack / digital integrated circuit / on-chip noise monitor |
| 資料番号 | VLD2021-30,ICD2021-40,DC2021-36,RECONF2021-38 |
| 発行日 | 2021-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / DC / RECONF / ICD / IPSJ-SLDM |
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| 開催期間 | 2021/12/1(から2日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | デザインガイア2021 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2021 -New Field of VLSI Design- |
| 委員長氏名（和） | 小林 和淑(京都工繊大) / 高橋 寛(愛媛大) / 佐野 健太郎(理研) / 高橋 真史(キオクシア) / 中村 祐一(NEC) |
| 委員長氏名（英） | Kazutoshi Kobayashi(Kyoto Inst. of Tech.) / Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) / Kentaro Sano(RIKEN) / Masafumi Takahashi(Kioxia) / Yuichi Nakamura(NEC) |
| 副委員長氏名（和） | 池田 奈美子(NTT) / 土屋 達弘(阪大) / 山口 佳樹(筑波大) / 泉 知論(立命館大) / 池田 誠(東大) |
| 副委員長氏名（英） | Minako Ikeda(NTT) / Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) / Yoshiki Yamaguchi(Tsukuba Univ.) / Tomonori Izumi(Ritsumeikan Univ.) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) |
| 幹事氏名（和） | 兼本 大輔(大阪大学) / 宮村 信(NEC) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 小林 悠記(NEC) / 中原 啓貴(東工大) / 廣瀬 哲也(阪大) / 新居 浩二(TSMCデザインテクノロジージャパン) / 瀬戸 謙修(東京都市大) / 川村 一志(東工大) / 廣本 正之(富士通) / 細田 浩希(ソニーLSIデザイン) |
| 幹事氏名（英） | Daisuke Kanemoto(Osaka Univ.) / Makoto Miyamura(NEC) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Hiroki Nakahara(Tokyo Inst. of Tech.) / Tetsuya Hirose(Osaka Univ.) / Koji Nii(TSMC) / Kenshu Seto(Tokyo City Univ.) / Kazushi Kawamura(Tokyo Inst. of Tech.) / Masayuki Hiromoto(Fujitsu) / Hiroki Hosoda(Sony LSI Design) |
| 幹事補佐氏名（和） | / / 竹村 幸尚(インテル) / 長名 保範(琉球大学) / 宮地 幸祐(信州大) / 吉原 義昭(キオクシア) / 久保木 猛(九大) |
| 幹事補佐氏名（英） | / / Yukitaka Takemura(INTEL) / Yasunori Osana(Ryukyu Univ.) / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) / Yoshiaki Yoshihara(キオクシア) / Takeshi Kuboki(Kyushu Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | デュアルモードSAR ADCを用いた電源ノイズ解析攻撃の検知手法の考案 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Dual-mode SAR ADC to Detect Power Analysis Attack |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電源ノイズ / power supply noise |
| キーワード(2)（和/英） | サイドチャネル攻撃 / side channel attack |
| キーワード(3)（和/英） | 電力解析攻撃 / power noise attack |
| キーワード(4)（和/英） | 電磁界ノイズ攻撃 / electromagnetic noise attack |
| キーワード(5)（和/英） | ディジタル集積回路 / digital integrated circuit |
| キーワード(6)（和/英） | オンチップモニタリング / on-chip noise monitor |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 弘原海 拓也 / Takuya Wadatsumi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 神戸大学(略称：神戸大) Kobe University(略称：Kobe Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 三木 拓司 / Takuji Miki |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 神戸大学(略称：神戸大) Kobe University(略称：Kobe Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 永田 真 / Makoto Nagata |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 神戸大学(略称：神戸大) Kobe University(略称：Kobe Univ.) |
| 発表年月日 | 2021-12-01 |
| 資料番号 | VLD2021-30,ICD2021-40,DC2021-36,RECONF2021-38 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | VLD-277,ICD-278,DC-279,RECONF-280 |
| ページ範囲 | pp.78-82(VLD), pp.78-82(ICD), pp.78-82(DC), pp.78-82(RECONF), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2021-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) |