| 講演名 | 2021-10-19 複数エントロピー源の排他的論理和によるTRNGの耐性強化 張 瑞琳(早大), 篠原 尋史(早大), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | HWS2021-45,ICD2021-19 |
| 発行日 | 2021-10-12 (HWS, ICD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS / ICD |
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| 開催期間 | 2021/10/19(から1日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | ハードウェアセキュリティ，一般 |
| テーマ（英） | Hardware Security, etc. |
| 委員長氏名（和） | 島崎 靖久(ルネサスエレクトロニクス) / 高橋 真史(キオクシア) |
| 委員長氏名（英） | Yasuhisa Shimazaki(Renesas Electronics) / Masafumi Takahashi(Kioxia) |
| 副委員長氏名（和） | 永田 真(神戸大) / 鈴木 大輔(三菱電機) / 池田 誠(東大) |
| 副委員長氏名（英） | Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Daisuke Suzuki(Mitsubishi Electric) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) |
| 幹事氏名（和） | 高橋 順子(NTT) / 藤本 大介(奈良先端大) / 廣瀬 哲也(阪大) / 新居 浩二(TSMCデザインテクノロジージャパン) |
| 幹事氏名（英） | Junko Takahashi(NTT) / Daisuke Fujimotoi(NAIST) / Tetsuya Hirose(Osaka Univ.) / Koji Nii(TSMC) |
| 幹事補佐氏名（和） | / 宮地 幸祐(信州大) / 吉原 義昭(キオクシア) / 久保木 猛(九大) |
| 幹事補佐氏名（英） | / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) / Yoshiaki Yoshihara(キオクシア) / Takeshi Kuboki(Kyushu Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Hardware Security / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices |
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| 本文の言語 | ENG-JTITLE |
| タイトル（和） | 複数エントロピー源の排他的論理和によるTRNGの耐性強化 |
| サブタイトル（和） | ミスマッチ雑音比を用いた統計的計算 |
| タイトル（英） | Robustness Improvement by XORing Multiple Entropy Sources for True Random Number Generator |
| サブタイトル（和） | Stochastic Calculations of Mismatch-to-Noise Ratio |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 張 瑞琳 / Ruilin Zhang |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 早稲田大学(略称：早大) Waseda University(略称：Waseda Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 篠原 尋史 / Hirofumi Shinohara |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 早稲田大学(略称：早大) Waseda University(略称：Waseda Univ.) |
| 発表年月日 | 2021-10-19 |
| 資料番号 | HWS2021-45,ICD2021-19 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | HWS-206,ICD-207 |
| ページ範囲 | pp.23-25(HWS), pp.23-25(ICD), |
| ページ数 | 3 |
| 発行日 | 2021-10-12 (HWS, ICD) |