| 講演名 | 2021-10-19 静電容量センサを用いたプリント基板の個体差の検出に関する基礎検討 太刀掛 彩希(奈良先端大), 鍛治 秀伍(奈良先端大), 藤本 大介(奈良先端大), 林 優一(奈良先端大), |
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| 抄録(和) | Physical Unclonable Function (PUF) を用いた個体識別技術は、半導体デバイスやプリント基板の真正性を保証する。従来のPUFでは主に半導体の製造ばらつきに着目しているが、IC外部の製造ばらつきにも着目することで、従来のPUFを用いた個体識別によって真正性が保証される範囲を基板レベルに拡張できる可能性がある。本稿では、基板レベルの個体識別手法を実現するための前段階として、ICに実装された静電容量センサの出力値の差異に着目し、基板を識別する手法を提案する。具体的には、IC内のADCと基板上のトレースの製造ばらつきに起因して、同一モデルの異なる機器間で静電容量センサの出力値に差異が生ずることを示す。そして、複数の機器の静電容量センサの出力値を用いた識別実験により、同一個体を判別できることを示す。 |
| 抄録(英) | Individual identification technology using Physical Unclonable Functions (PUFs) guarantees the authenticity of semiconductor devices and printed circuit boards (PCBs). Previous PUFs mainly focus on the manufacturing variability of semiconductors. However, the scope of authenticity assurance could be extended to the board level by focusing on the manufacturing variability outside the integrated circuits (ICs). This paper proposes an individual identification method of PCBs by focusing on differences in output values of capacitance sensors installed on ICs as a fundamental study to realizing a board-level individual identification method. Specifically, we show that differences in the output values of capacitance sensors occur between different devices of the same model due to manufacturing variations in the ADC in the IC and the trace on the board. In addition, we show that it is possible to identify the same device by an identification experiment using the output values of capacitance sensors of multiple devices. |
| キーワード(和) | Physical Unclonable Function / デバイス識別 / 製造ばらつき |
| キーワード(英) | Physical Unclonable Function / device identification / manufacturing variation |
| 資料番号 | HWS2021-50,ICD2021-24 |
| 発行日 | 2021-10-12 (HWS, ICD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS / ICD |
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| 開催期間 | 2021/10/19(から1日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | ハードウェアセキュリティ，一般 |
| テーマ（英） | Hardware Security, etc. |
| 委員長氏名（和） | 島崎 靖久(ルネサスエレクトロニクス) / 高橋 真史(キオクシア) |
| 委員長氏名（英） | Yasuhisa Shimazaki(Renesas Electronics) / Masafumi Takahashi(Kioxia) |
| 副委員長氏名（和） | 永田 真(神戸大) / 鈴木 大輔(三菱電機) / 池田 誠(東大) |
| 副委員長氏名（英） | Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Daisuke Suzuki(Mitsubishi Electric) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) |
| 幹事氏名（和） | 高橋 順子(NTT) / 藤本 大介(奈良先端大) / 廣瀬 哲也(阪大) / 新居 浩二(TSMCデザインテクノロジージャパン) |
| 幹事氏名（英） | Junko Takahashi(NTT) / Daisuke Fujimotoi(NAIST) / Tetsuya Hirose(Osaka Univ.) / Koji Nii(TSMC) |
| 幹事補佐氏名（和） | / 宮地 幸祐(信州大) / 吉原 義昭(キオクシア) / 久保木 猛(九大) |
| 幹事補佐氏名（英） | / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) / Yoshiaki Yoshihara(キオクシア) / Takeshi Kuboki(Kyushu Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Hardware Security / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 静電容量センサを用いたプリント基板の個体差の検出に関する基礎検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fundamental Study on Individual Identification of Printed Circuit Boards Using Capacitance Sensors |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | Physical Unclonable Function / Physical Unclonable Function |
| キーワード(2)（和/英） | デバイス識別 / device identification |
| キーワード(3)（和/英） | 製造ばらつき / manufacturing variation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 太刀掛 彩希 / Ayaki Tachikake |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 鍛治 秀伍 / Shugo Kaji |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 藤本 大介 / Daisuke Fujitomo |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yu-ichi Hayashi |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 発表年月日 | 2021-10-19 |
| 資料番号 | HWS2021-50,ICD2021-24 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | HWS-206,ICD-207 |
| ページ範囲 | pp.49-52(HWS), pp.49-52(ICD), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2021-10-12 (HWS, ICD) |