| 講演名 | 2021-10-07 システム異常要因・箇所予測技術の研究 西田 大輝(中部大), 佐貫 颯治(中部大), 吉村 奈那子(中部大), 木村 秀明(中部大), |
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| 抄録(和) | 近年，少子高齢化により技術者不足が問題となっている．本稿では，リバースエンジニアリング技術による故障箇所および要因を特定するためのシステムを提案する．本提案技術は評価対象物を計算機上に構築，人工知能技術（AI）と数値計算技術を連携，異常箇所，異常要因特定を行うシステムである．妥当性検証に向け，1次元空間上で数値計算，評価実験を行ったので結果を報告する． |
| 抄録(英) | In recent years, the shortage of engineers has become a problem due to the declining birthrate and aging population. In this paper, we propose a system for identifying failure locations and factors using reverse engineering technology. The proposed system constructs an object to be evaluated on a computer and identifies anomalies and causes of anomalies by linking artificial intelligence (AI) technology and numerical calculation technology. To verify the validity of the proposed system, numerical calculations and evaluation experiments were conducted in a one-dimensional space, and the results are reported. |
| キーワード(和) | 異常箇所 / システム連携 / FDTD / 機械学習 |
| キーワード(英) | Anomaly location / system coordination / finite difference time domain method / machine learning |
| 資料番号 | EMCJ2021-31,MW2021-43,EST2021-33 |
| 発行日 | 2021-09-30 (EMCJ, MW, EST) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EST / MW / EMCJ / IEE-EMC |
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| 開催期間 | 2021/10/7(から2日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | EMC一般/マイクロ波/電磁界シミュレーション |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 柴山 純(法政大) / 末松 憲治(東北大) / 西方 敦博(東工大) |
| 委員長氏名（英） | Jun Shibayama(Hosei Univ.) / Noriharu Suematsu(Tohoku Univ.) / Atsuhiro Nishikata(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 副委員長氏名（和） | 君島 正幸(アドバンテスト研) / 辻 寧英(室蘭工大) / 大寺 康夫(富山県立大学) / 河合 正(兵庫県立大) / 大久保 賢祐(岡山県立大) / 中溝 英之(三菱電機) / 田島 公博(NTT-AT) |
| 副委員長氏名（英） | Masayuki Kimishima(Advantest) / Yasuhide Tsuji(Muroran Inst. of Tech.) / Yasuo Ohtera(Toyama Prefectural Univ.) / Tadashi Kawai(Univ. of Hyogo) / Kensuke Okubo(Okayama Prefectural Univ.) / Hideyuki Nakamizo(Mitsubishi Electric) / Kimihiro Tajima(NTT-AT) |
| 幹事氏名（和） | 毛塚 敦(電子航法研) / 阪本 卓也(京大) / 大平 昌敬(埼玉大) / 河口 民雄(東芝) / 林 優一(奈良先端大) / 高橋 昌義(日立) |
| 幹事氏名（英） | Atsushi Kezuka(ENRI) / Takuya Sakamoto(yoto Univ.) / Masataka Ohira(Saitama Univ.) / Tamio Kawaguchi(Toshiba) / Yuichi Hayashi(NAIST) / Masayoshi Takahashi(Hitachi) |
| 幹事補佐氏名（和） | 岸本 誠也(日大) / 井口 亜希人(室蘭工大) / 長谷川 直輝(ソフトバンク) / 片山 光亮(早大) / 松島 清人(日立) / 志田 浩義(EMCテック) / 松嶋 徹(九工大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Seiya Kishimoto(Nihon Univ.) / Akito Iguchi(Muroran Inst. of Tech) / Naoki Hasegawa(Softbank) / Kosuke Katayama(Waseda Univ.) / Kiyoto Matsushima(Hitachi) / Hiroyoshi Shida(EMC Tech.) / Tohlu Matsushima(Kyushu Inst. of Tech.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electronics Simulation Technology / Technical Committee on Microwaves / Technical Committee on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Electromagnetic Compatibility |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | システム異常要因・箇所予測技術の研究 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Research on technology for predicting the causes and locations of system abnormalities |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 異常箇所 / Anomaly location |
| キーワード(2)（和/英） | システム連携 / system coordination |
| キーワード(3)（和/英） | FDTD / finite difference time domain method |
| キーワード(4)（和/英） | 機械学習 / machine learning |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 西田 大輝 / Hiroki Nishida |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 中部大学(略称：中部大) Chubu University(略称：Chubu Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 佐貫 颯治 / Ryuji Sanuki |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 中部大学(略称：中部大) Chubu University(略称：Chubu Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 吉村 奈那子 / Nanako Yoshimura |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 中部大学(略称：中部大) Chubu University(略称：Chubu Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 木村 秀明 / Hideaki Kimura |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 中部大学(略称：中部大) Chubu University(略称：Chubu Univ.) |
| 発表年月日 | 2021-10-07 |
| 資料番号 | EMCJ2021-31,MW2021-43,EST2021-33 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | EMCJ-186,MW-187,EST-188 |
| ページ範囲 | pp.21-24(EMCJ), pp.21-24(MW), pp.21-24(EST), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2021-09-30 (EMCJ, MW, EST) |