| 講演名 | 2021-10-07 光変調散乱素子を用いた高周波電界計測システムのFDTD法による性能評価 黒澤 孝裕(秋田県産技センター), |
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| 抄録(和) | 半導体を散乱体とした光変調散乱素子を用いた高周波電界計測システムについて，円板形状の散乱体から生じる変調散乱波強度と散乱体物性や寸法との関係を FDTD シミュレーションにより解析した．光照射に伴う散乱体の導電率変化量および散乱体寸法と変調散乱波強度との関係を求めるとともに，散乱体の全断面積を用いて侵襲性を評価した．その結果，実測の周波数特性をおおむね再現できた．高感度を得るためには，光照射時の散乱体導電率を増加させること，および，散乱体の全厚を減少させることが有効であった．特に散乱体の全厚減少は侵襲性も低減可能であり，測定システムの性能向上に効果的である．また，散乱体直径の増加によっても高感度化を図れるが，同時に侵襲性も悪化することを明らかにした． |
| 抄録(英) | Microwave electric field measurement system based on the modulated scattering technique with optically modulated semiconductor scatterer is analyzed by using FDTD method. The sensitivity and invasiveness are calculated from the modulation amplitude of forward scattering field with resistivity modulation of the disk scatterer and calculated from total cross section of it, respectively. Increasing the resistivity modulation amplitude and decrease the thickness of the scatterer is effective for increasing the sensitivity. Increasing the diameter of scatterer also increase the sensitivity while it increases the invasiveness. |
| キーワード(和) | 電界計測 / 変調散乱 / FDTD / EMC |
| キーワード(英) | electric field measurement / modulated scattering / FDTD / EMC |
| 資料番号 | EMCJ2021-34,MW2021-46,EST2021-36 |
| 発行日 | 2021-09-30 (EMCJ, MW, EST) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EST / MW / EMCJ / IEE-EMC |
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| 開催期間 | 2021/10/7(から2日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | EMC一般/マイクロ波/電磁界シミュレーション |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 柴山 純(法政大) / 末松 憲治(東北大) / 西方 敦博(東工大) |
| 委員長氏名（英） | Jun Shibayama(Hosei Univ.) / Noriharu Suematsu(Tohoku Univ.) / Atsuhiro Nishikata(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 副委員長氏名（和） | 君島 正幸(アドバンテスト研) / 辻 寧英(室蘭工大) / 大寺 康夫(富山県立大学) / 河合 正(兵庫県立大) / 大久保 賢祐(岡山県立大) / 中溝 英之(三菱電機) / 田島 公博(NTT-AT) |
| 副委員長氏名（英） | Masayuki Kimishima(Advantest) / Yasuhide Tsuji(Muroran Inst. of Tech.) / Yasuo Ohtera(Toyama Prefectural Univ.) / Tadashi Kawai(Univ. of Hyogo) / Kensuke Okubo(Okayama Prefectural Univ.) / Hideyuki Nakamizo(Mitsubishi Electric) / Kimihiro Tajima(NTT-AT) |
| 幹事氏名（和） | 毛塚 敦(電子航法研) / 阪本 卓也(京大) / 大平 昌敬(埼玉大) / 河口 民雄(東芝) / 林 優一(奈良先端大) / 高橋 昌義(日立) |
| 幹事氏名（英） | Atsushi Kezuka(ENRI) / Takuya Sakamoto(yoto Univ.) / Masataka Ohira(Saitama Univ.) / Tamio Kawaguchi(Toshiba) / Yuichi Hayashi(NAIST) / Masayoshi Takahashi(Hitachi) |
| 幹事補佐氏名（和） | 岸本 誠也(日大) / 井口 亜希人(室蘭工大) / 長谷川 直輝(ソフトバンク) / 片山 光亮(早大) / 松島 清人(日立) / 志田 浩義(EMCテック) / 松嶋 徹(九工大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Seiya Kishimoto(Nihon Univ.) / Akito Iguchi(Muroran Inst. of Tech) / Naoki Hasegawa(Softbank) / Kosuke Katayama(Waseda Univ.) / Kiyoto Matsushima(Hitachi) / Hiroyoshi Shida(EMC Tech.) / Tohlu Matsushima(Kyushu Inst. of Tech.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electronics Simulation Technology / Technical Committee on Microwaves / Technical Committee on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Electromagnetic Compatibility |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 光変調散乱素子を用いた高周波電界計測システムのFDTD法による性能評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | FDTD Analysis of the Microwave Measurement System with Optically Modulated Scatterer |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電界計測 / electric field measurement |
| キーワード(2)（和/英） | 変調散乱 / modulated scattering |
| キーワード(3)（和/英） | FDTD / FDTD |
| キーワード(4)（和/英） | EMC / EMC |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 黒澤 孝裕 / Takahiro Kurosawa |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 秋田県産業技術センター(略称：秋田県産技センター) AKITA Industrial Technology Center(略称：Akita ITC) |
| 発表年月日 | 2021-10-07 |
| 資料番号 | EMCJ2021-34,MW2021-46,EST2021-36 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | EMCJ-186,MW-187,EST-188 |
| ページ範囲 | pp.35-39(EMCJ), pp.35-39(MW), pp.35-39(EST), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2021-09-30 (EMCJ, MW, EST) |