| 講演名 | 2021-07-20 PUFを信頼の基点としたRISC-V TEE環境の実装 吉田 康太(立命館大), 須崎 有康(産総研), 藤野 毅(立命館大), |
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| 抄録(和) | Society5.0において，フィジカル空間に配置された膨大な数のIoTデバイスから信頼できるデータを収集するためには，フィジカル空間に配置されたIoTデバイスとソフトウェアの真正性を検証する必要がある．これは，暗号アルゴリズムのようなクリティカルな処理を通常のOSから隔離された環境で実行するTEEと，デバイスに実装された信頼の基点，デバイスとソフトウェアの真正性を第三者が確認する手段であるリモートアテステーションの技術によって実現される．RISC-V KeystoneはRISC-V ISA上でTEEを実現するためのオープンフレームワークであるが，現時点ではTEEとリモートアテステーション機能のみが提供されており，信頼の基点の安全な実装は別途実施する必要がある．本稿では，RISC-V Keystoneにおける信頼の基点として，PUFを使用する実装を紹介する．PUFを用いてデバイス固有鍵を生成することにより，セキュアな不揮発性メモリを実装して鍵書き込みを行う必要がなくなり，低コストで高いセキュリティを実現することができる． |
| 抄録(英) | In society 5.0, acquiring trustworthy data from a huge amount of IoT devices in physical spaces, it is important to verify the authenticity of IoT devices and software. It is achieved by TEE, root of trust, and remote attestation. TEE is an isolated execution environment to execute critical software such as cryptographic processes and handling secret keys. The root of trust provides a device-specific key and the remote attestation provides means for third parties to verify the authenticity of the device and software. RISC-V Keystone is an open framework to implement TEE on RISC-V ISA. Keystone provides TEE and remote attestation framework, however root of trust have to be additionally implemented. In this paper, we introduce an implementation that uses PUF as a root of trust in RISC-V Keystone. It is not necessary to deploy a secret key into a secure non-volatile memory by using PUF as a secure key generator, so high security can be realized at a low cost. |
| キーワード(和) | RISC-V / Trusted Execution Environmnet / Hardware Root of Trust / Physically Unclonable Function |
| キーワード(英) | RISC-V / Trusted Execution Environmnet / Hardware Root of Trust / Physically Unclonable Function |
| 資料番号 | ISEC2021-25,SITE2021-19,BioX2021-26,HWS2021-25,ICSS2021-30,EMM2021-30 |
| 発行日 | 2021-07-12 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | BioX / ISEC / SITE / ICSS / EMM / HWS / IPSJ-CSEC / IPSJ-SPT |
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| 開催期間 | 2021/7/19(から2日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | online |
| テーマ（和） | セキュリティ、一般 （セキュリティサマーサミット2021） |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 今岡 仁(NEC) / 伊豆 哲也(富士通研) / 小川 賢(神戸学院大) / 吉岡 克成(横浜国大) / 西村 竜一(NICT) / 島崎 靖久(ルネサスエレクトロニクス) |
| 委員長氏名（英） | Hitoshi Imaoka(NEC) / Tetsuya Izu(Fujitsu Labs.) / Masaru Ogawa(Kobe Gakuin Univ.) / Katsunari Yoshioka(Yokohama National Univ.) / Ryoichi Nishimura(NICT) / Yasuhisa Shimazaki(Renesas Electronics) |
| 副委員長氏名（和） | 市野 将嗣(電通大) / 高田 直幸(セコム) / 國廣 昇(筑波大学) / 花岡 悟一郎(産総研) / 大谷 卓史(吉備国際大) / 辰己 丈夫(放送大) / 神谷 和憲(NTT) / 笠間 貴弘(NICT) / 藤吉 正明(都立大) / 市野 将嗣(電通大) / 永田 真(神戸大) / 鈴木 大輔(三菱電機) |
| 副委員長氏名（英） | Masatsugu Ichino(Univ. of Electro-Comm.) / Naoyuki Takada(SECOM) / Noboru Kunihiro(Tsukuba Univ.) / Goichiro Hanaoka(AIST) / Takushi Otani(Kibi International Univ.) / Takeo Tatsumi(Open Univ. of Japan) / Kazunori Kamiya(NTT) / Takahiro Kasama(NICT) / Masaaki Fujiyoshi(Tokyo Metropolitan Univ.) / Masatsugu Ichino(Univ. of Electro-Comm.) / Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Daisuke Suzuki(Mitsubishi Electric) |
| 幹事氏名（和） | 奥井 宣広(KDDI総合研究所) / 佐野 恵美子(三菱電機) / 山本 大(富士通研) / 米山 一樹(茨城大) / 吉永 敦征(山口県立大) / 鈴木 大助(北陸大) / 山田 明(KDDI labs.) / 山内 利宏(岡山大) / 長谷川 まどか(宇都宮大) / 吉田 真紀(NICT) / 高橋 順子(NTT) / 藤本 大介(奈良先端大) |
| 幹事氏名（英） | Norihiko Okui(KDDI Research) / Emiko Sano(MitsubishiElectric) / Dai Yamamoto(Fujitsu Labs.) / Kazuki Yoneyama(Ibaraki Univ.) / Nobuyuki Yoshinaga(Yamaguchi Pref Univ.) / Daisuke Suzuki(Hokuriku Univ.) / Akira Yamada(KDDI labs.) / Toshihiro Yamauchi(Okayama Univ.) / Madoka Hasegawa(Utsunomiya Univ.) / Maki Yoshida(NICT) / Junko Takahashi(NTT) / Daisuke Fujimotoi(NAIST) |
| 幹事補佐氏名（和） | 鈴木 裕之(群馬大) / 早坂 昭裕(NEC) / 松田 隆宏(産総研) / 藤井 秀之(NRIセキュアテクノロジー) / 橘 雄介(福岡工業大) / 木藤 圭亮(三菱電機) / 菅原 健(電通大) / 今泉 祥子(千葉大) / 高嶋 洋一(開志専門職大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Hiroyuki Suzuki(Gunma Univ) / Akihiro Hayasaka(NEC) / Takahiro Matsuda(AIST) / Hideyuki Fujii(NRI-Secure) / Yusuke Tachibana(Fukuoka Inst. of Tech.) / Keisuke Kito(Mitsubishi Electric) / Takeshi Sugawara(Univ. of Electro-Comm.) / Shoko Imaizumi(Chiba Univ.) / Youichi Takashima(Kaishi Professional Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Biometrics / Technical Committee on Information Security / Technical Committee on Social Implications of Technology and Information Ethics / Technical Committee on Information and Communication System Security / Technical Committee on Enriched MultiMedia / Technical Committee on Hardware Security / Special Interest Group on Computer Security / Special Interest Group on Security Psychology and Trust |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | PUFを信頼の基点としたRISC-V TEE環境の実装 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Implimentation of RISC-V TEE using PUF as Root of Trust |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | RISC-V / RISC-V |
| キーワード(2)（和/英） | Trusted Execution Environmnet / Trusted Execution Environmnet |
| キーワード(3)（和/英） | Hardware Root of Trust / Hardware Root of Trust |
| キーワード(4)（和/英） | Physically Unclonable Function / Physically Unclonable Function |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 吉田 康太 / Kota Yoshida |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 立命館大学(略称：立命館大) Ritsumeikan University(略称：Ritsumeikan Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 須崎 有康 / Kuniyasu Suzaki |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 藤野 毅 / Takeshi Fujino |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 立命館大学(略称：立命館大) Ritsumeikan University(略称：Ritsumeikan Univ.) |
| 発表年月日 | 2021-07-20 |
| 資料番号 | ISEC2021-25,SITE2021-19,BioX2021-26,HWS2021-25,ICSS2021-30,EMM2021-30 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | ISEC-118,SITE-119,BioX-120,HWS-121,ICSS-122,EMM-123 |
| ページ範囲 | pp.92-97(ISEC), pp.92-97(SITE), pp.92-97(BioX), pp.92-97(HWS), pp.92-97(ICSS), pp.92-97(EMM), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2021-07-12 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM) |