| 講演名 | 2021-07-06 リーク電流を利用したPUFの回路構造の提案とシミュレーション評価 笈川 智秋(芝浦工大), 宇佐美 公良(芝浦工大), |
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| 抄録(和) | LSIの個体識別技術の一つに、半導体の物理的特徴を利用したPUF(Physically Unclonable Function)がある。この技術により、正規品の認証が可能となり、模造品の流通を防ぐことが期待されている。しかし近年、機械学習の発展により、認証を回避される可能性が指摘されている。本研究では、機械学習耐性の向上を目的として、サブスレッショルドリーク電流を利用したPUF(LR-PUF:Leak Racing PUF)を提案する。また、LR-PUFを回路として実装し、シミュレーション評価を行う。 |
| 抄録(英) | One of the LSI individual identification technologies is PUF (Physically Unclonable Function), which utilizes the physical characteristics of semiconductors. This technology is expected to make it possible to authenticate genuine products and prevent the distribution of counterfeit products. However, in recent years, the possibility of authentication evasion has been pointed out due to the development of machine learning. In this study, we propose a PUF (LR-PUF: Leak Racing PUF) that uses sub-threshold leakage current to improve the resistance to machine learning. We also implement the LR-PUF as a circuit and perform simulation evaluation. |
| キーワード(和) | PUF / セキュリティ / リーク電流 / 製造ばらつき |
| キーワード(英) | PUF / Security / Leakage Current / Manufacturing Variation |
| 資料番号 | CAS2021-9,VLD2021-9,SIP2021-19,MSS2021-9 |
| 発行日 | 2021-06-28 (CAS, VLD, SIP, MSS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SIP / CAS / VLD / MSS |
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| 開催期間 | 2021/7/5(から2日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | システムと信号処理および一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 坂東 幸浩(NTT) / 佐藤 弘樹(ソニーLSIデザイン) / 小林 和淑(京都工繊大) / 尾崎 敦夫(阪工大) |
| 委員長氏名（英） | Yukihiro Bandou(NTT) / Hiroki Sato(Sony LSI Design) / Kazutoshi Kobayashi(Kyoto Inst. of Tech.) / Atsuo Ozaki(Osaka Inst. of Tech.) |
| 副委員長氏名（和） | 田中 聡久(東京農工大) / 仲地 孝之(琉球大学) / 前田 義信(新潟大) / 池田 奈美子(NTT) / 山口 真悟(山口大) |
| 副委員長氏名（英） | Toshihisa Tanaka(Tokyo Univ. Agri.&Tech.) / Takayuki Nakachi(Ryukyu Univ.) / Yoshinobu Maeda(Niigata Univ.) / Minako Ikeda(NTT) / Shingo Yamaguchi(Yamaguchi Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 杉本 憲治郎(Xiaomi) / 渡辺 修(拓殖大) / 田中 雄一(東京農工大) / 下田 真二(ソニーLSIデザイン) / 伊藤 尚(富山高専) / 兼本 大輔(大阪大学) / 宮村 信(NEC) / 小林 孝一(北大) / 劉 健全(NEC) |
| 幹事氏名（英） | Kenjiro Sugimoto(Xiaomi) / Osamu Watanabe(Takushoku Univ.) / Yuichi Tanaka(Tokyo Univ. Agri.&Tech.) / Shinji Shimoda(Sony LSI Design) / Nao Ito(NIT, Toyama college) / Daisuke Kanemoto(Osaka Univ.) / Makoto Miyamura(NEC) / Koichi Kobayashi(Hokkaido Univ.) / Jianquan Liui(NEC) |
| 幹事補佐氏名（和） | 吉田 太一(電通大) / 京地 清介(北九州市立大) / 山口 基(テクノプロ) / 中村 洋平(日立) / 佐藤 隆英(山梨大) / 相原 康敏(村田製作所) / / 白井 匡人(島根大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Taichi Yoshida(UEC) / Seisuke Kyochi(Univ. of Kitakyushu) / Motoi Yamaguchi(TECHNOPRO) / Yohei Nakamura(Hitachi) / Takahide Sato(Univ. of Yamanashi) / Yasutoshi Aibara(Murata Manufacturing) / / Masato Shirai(Shimane Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Signal Processing / Technical Committee on Circuits and Systems / Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Mathematical Systems Science and its Applications |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | リーク電流を利用したPUFの回路構造の提案とシミュレーション評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Circuit Structure of PUF using Leakage Current and Simulation Evaluation |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | PUF / PUF |
| キーワード(2)（和/英） | セキュリティ / Security |
| キーワード(3)（和/英） | リーク電流 / Leakage Current |
| キーワード(4)（和/英） | 製造ばらつき / Manufacturing Variation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 笈川 智秋 / Tomoaki Oikawa |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学(略称：芝浦工大) Shibaura Institute of Technology(略称：Shibaura Inst. of Tech.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 宇佐美 公良 / Kimiyoshi Usami |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学(略称：芝浦工大) Shibaura Institute of Technology(略称：Shibaura Inst. of Tech.) |
| 発表年月日 | 2021-07-06 |
| 資料番号 | CAS2021-9,VLD2021-9,SIP2021-19,MSS2021-9 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | CAS-89,VLD-90,SIP-91,MSS-92 |
| ページ範囲 | pp.42-47(CAS), pp.42-47(VLD), pp.42-47(SIP), pp.42-47(MSS), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2021-06-28 (CAS, VLD, SIP, MSS) |