| 講演名 | 2021-06-25 高確率で故障するネットワーク条件下における耐障害性マルチパスルーティング 奥村 泰地(慶大), 村上 正樹(慶大), 植松 芳彦(慶大), 岡本 聡(慶大), 山中 直明(慶大), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 多くの機器から構成されるネットワークは機器故障に備えるために耐障害性手法が求められる．一方で，ネットワーク機器の故障予測の研究が行われており，予測精度が向上すると，データセンタ等で利用されるような故障率の高い機器をトランスポートネットワークに適用することが期待されている．我々は，高故障条件下における故障予測に基づく耐障害性ルーティング手法として，容量期待値保証型ルーティングを提案している．本論文では，容量期待値保証型ルーティングの性能向上を図るために，機器の故障率とパス設定保持時間への依存性について明らかにする． |
| 抄録(英) | Networks consisting of many devices require fault-tolerant methods to prepare for device failures. On the other hand, researches on network equipment failure prediction are progressed. As the prediction accuracy improves, it is expected that equipment with high failure rate used in data centers will be applied to transport networks. We have been proposing Expected Capacity Guaranteed Routing (ECGR) based on failure prediction as a fault-tolerant routing method under high network failure environment. In this paper, we clarify the conditional dependence of the failure rate of devices and path’s holding time to improve the performance of ECGR. |
| キーワード(和) | 耐障害性 / マルチパスルーティング / 故障予測 / ICN/CCN |
| キーワード(英) | Fault-Tolerance / Multi-Path Routing / Failure Prediction / ICN/CCN |
| 資料番号 | PN2021-10 |
| 発行日 | 2021-06-17 (PN) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | PN / NS / OCS |
|---|---|
| 開催期間 | 2021/6/24(から2日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | フォトニックネットワーク・システム，光ネットワーク運用管理，光ネットワーク設計，トラヒックエンジニアリング，シグナリング，GMPLS，ドメイン間経路制御，ネットワーク監視，光増幅器・光中継装置，光／電気クロスコネクト・OADM，光／電気多重・分離，光送受信機，光端局装置，ディジタル信号処理・誤り訂正，光通信計測，データコム用光通信機器，コア・メトロシステム，海底伝送システム，光アクセスシステム・次世代PON，イーサネット，光伝達網(OTN)，伝送監視制御，光伝送システム設計・ツール，モバイル光連携，一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 古川 英昭(NICT) / 中尾 彰宏(東大) / 星田 剛司(富士通) |
| 委員長氏名（英） | Hideaki Furukawa(KDDI Research) / Akihiro Nakao(Univ. of Tokyo) / Takeshi Hoshida(Fujitsu) |
| 副委員長氏名（和） | 塩本 公平(東京都市大) / 杉崎 隆一(古河電工) / 吉兼 昇(KDDI総合研究所) / 大石 哲矢(NTT) |
| 副委員長氏名（英） | Kohei Shiomoto(Tokyo City Univ.) / Ryuichi Sugizaki(Furukawa Electric) / Noboru Yoshikane(KDDI Research) / Tetsuya Oishi(NTT) |
| 幹事氏名（和） | 中川 雅弘(NTT) / 松浦 基晴(電通大) / 池邉 隆(NTT) / 吉田 雅裕(中大) / 山本 秀人(NTT) / 小田 拓弥(フジクラ) |
| 幹事氏名（英） | Masahiro Nakagawa(NTT) / Motoharu Matsuura(Univ. of Electr-Comm.) / Takashi Ikebe(NTT) / Masahiro Yoshida(Chuo Univ.) / Shuto Yamamoto(NTT) / Takuya Oda(Fujikura) |
| 幹事補佐氏名（和） | 森 洋二郎(名大) / 石井 健二(三菱電機) / 三原 孝太郎(NTT) |
| 幹事補佐氏名（英） | Yojiro Mori(Nagoya Univ.) / Kenji Ishii(Mitsubishi Electric) / Kotaro Mihara(NTT) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Photonic Network / Technical Committee on Network Systems / Technical Committee on Optical Communication Systems |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 高確率で故障するネットワーク条件下における耐障害性マルチパスルーティング |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fault-Tolerant Multi-Path Routing Method under High Network Failure Environment |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 耐障害性 / Fault-Tolerance |
| キーワード(2)（和/英） | マルチパスルーティング / Multi-Path Routing |
| キーワード(3)（和/英） | 故障予測 / Failure Prediction |
| キーワード(4)（和/英） | ICN/CCN / ICN/CCN |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 奥村 泰地 / Taichi Okumura |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学(略称：慶大) Keio University(略称：Keio Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 村上 正樹 / Masaki Murakami |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学(略称：慶大) Keio University(略称：Keio Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 植松 芳彦 / Yoshihiko Uematsu |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学(略称：慶大) Keio University(略称：Keio Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 岡本 聡 / Satoru Okamoto |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学(略称：慶大) Keio University(略称：Keio Univ.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 山中 直明 / Naoaki Yamanaka |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学(略称：慶大) Keio University(略称：Keio Univ.) |
| 発表年月日 | 2021-06-25 |
| 資料番号 | PN2021-10 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | PN-76 |
| ページ範囲 | pp.33-39(PN), |
| ページ数 | 7 |
| 発行日 | 2021-06-17 (PN) |