| 講演名 | 2021-03-26 コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法 飯塚 恭平(日大), 細川 利典(日大), 山崎 紘史(日大), 吉村 正義(京都産大), |
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| 抄録(和) | 近年，VLSIの微細化，高速化，電源電圧の低下に伴い，遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっている．しかしながら，遷移故障のテスト生成では、一般にVLSIの回路構造と機能に起因する多くのテスト不能故障が同定される．目標故障がテスト不能である場合、その場所をカバーするテストが欠落する．その結果，欠陥が検出可能であっても，テスト集合はその場所周辺の欠陥を検出しない可能性がある．それゆえ，遷移故障モデルにおける故障検出率向上のためのテスト容易化設計が重要である．コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当ての指標として,QDT値が提案されている．本論文は，拡張QDT値を用いて状態レジスタ間の活性化可能な経路数を増大させるために，コントローラに追加状態遷移を挿入する手法を提案する．MCNC’91ベンチマーク回路に対する実験結果は，提案手法の適用によって遷移故障検出率が向上したことを示す． |
| 抄録(英) | With shrinking feature sizes, growing clock frequencies, and decreasing power supply voltage, modern VLSIs are increasingly suffering from the impact of timing related defects. Therefore, transition fault testing is necessary. However, test generation for transition faults generally identifies many untestable faults due to the circuit structures and functions of VLSIs. When a target fault is untestable, a test that would have covered its site is missing from the test set. As a result, the test set might not detect defects around this site, even if the defects are detectable. Therefore, design-for-testability to improve transition fault coverage is very important. QDT value were proposed as testability measure of transition fault testing for state assignments of controllers. This paper proposes a method to insert additional state transitions into controllers using extended QDT value to increase the number of sensitizable paths between state registers. Experimental results for the MCNC'91 benchmark circuits show that transition fault coverage for controllers was improved by applying our proposed method. |
| キーワード(和) | 遷移故障 / コントローラ拡大 / QDT値 / 状態遷移 |
| キーワード(英) | transition faults / controller augmentation / QDT value / state transitions |
| 資料番号 | CPSY2020-63,DC2020-93 |
| 発行日 | 2021-03-18 (CPSY, DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY / DC / IPSJ-SLDM / IPSJ-EMB / IPSJ-ARC |
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| 開催期間 | 2021/3/25(から2日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | 組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2021 |
| テーマ（英） | ETNET2021 |
| 委員長氏名（和） | 入江 英嗣(東大) / 高橋 寛(愛媛大) / 中村 祐一(NEC) / / 井上 弘士(九大) |
| 委員長氏名（英） | Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) / Yuichi Nakamura(NEC) / / Hiroshi Inoue(Kyushu Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 鯉渕 道紘(NII) / 中島 耕太(富士通研) / 土屋 達弘(阪大) |
| 副委員長氏名（英） | Michihiro Koibuchi(NII) / Kota Nakajima(Fujitsu Lab.) / Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 高前田 伸也(東大) / 津邑 公暁(名工大) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 瀬戸 謙修(東京都市大) / 密山 幸男(高知工科大) / 君家 一紀(三菱電機) / 廣本 正之(富士通研) / / 今村 智(富士通研) / 塩谷 亮太(東大) / 谷本 輝夫(九大) / 新田 高庸(NTT) |
| 幹事氏名（英） | Shinya Takameda(Univ. of Tokyo) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Kenshu Seto(Tokyo City Univ.) / Yukio Mitsuyama(Kochi Univ. of Tech.) / Kazuki Oya(Mitsubishi Electric) / Masayuki Hiromoto(Fujistu Lab.) / / Satoshi Imamura(Fujitsu Lab.) / Ryota Shioya(Univ. of Tokyo) / Teruo Tanimoto(Kyushu Univ.) / Koyo Nitta(NTT) |
| 幹事補佐氏名（和） | 小川 周吾(日立) / 有間 英志(東大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Shugo Ogawa(Hitachi) / Eiji Arima(Univ. of Tokyo) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Dependable Computing / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology / Special Interest Group on Embedded Systems / Special Interest Group on System Architecture |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Controller Augmentation method to Improving Transition Fault Coverage |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遷移故障 / transition faults |
| キーワード(2)（和/英） | コントローラ拡大 / controller augmentation |
| キーワード(3)（和/英） | QDT値 / QDT value |
| キーワード(4)（和/英） | 状態遷移 / state transitions |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 飯塚 恭平 / Kyohei Iizuka |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 京都産業大学(略称：京都産大) Kyoto Sangyo University(略称：Kyoto Sangyo Univ) |
| 発表年月日 | 2021-03-26 |
| 資料番号 | CPSY2020-63,DC2020-93 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | CPSY-435,DC-436 |
| ページ範囲 | pp.79-84(CPSY), pp.79-84(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2021-03-18 (CPSY, DC) |