| 講演名 | 2021-03-26 レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 土渕 航平(日大), 細川 利典(日大), 山崎 浩二(明大), |
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| 抄録(和) | 近年の半導体微細化技術の進歩に伴い，超大規模集積回路において，故障解析は歩留まりの向上のために重要である．被疑故障を事前に絞り込んでおく故障診断は，故障解析の重要なステップであり，故障解析コストの低減のために重要である．被疑故障数削減のためにゲートレベルやレイアウトレベルにおけるテストポイント挿入などの診断容易化設計が提案されているが，面積オーバーヘッドやタイミングの最適性の損失という課題が発生する．本論文では，レジスタ転送レベルにおける診断容易化設計手法を提案する．診断容易性のためのコントローラの各状態遷移における制御信号のドントケア割当て問題を疑似ブール最適化問題として定式化する． |
| 抄録(英) | With the progress of semiconductor technology in recent years, fault analysis is important to improve the yield of VLSIs. Fault diagnosis, which narrows down suspected faults in advance, is an important step in fault analysis and is important to reduce the cost of fault analysis. To reduce the number of suspected faults, design-for-diagnosability methods such as test point insertion at gate level and layout level have been proposed. However, the design-for-diagnosability methods cause problems such as area overhead and destroy of timing optimization. In this paper, we propose a design-for-diagnosability method at register transfer level. Don't care filling problem of control signals on each state transition of controllers for fault diagnosability is formulated as a pseudo-Boolean optimization problem. |
| キーワード(和) | 故障診断 / ドントケア割当て / レジスタ転送レベル / 疑似ブール最適化問題 / 診断容易化設計 |
| キーワード(英) | fault diagnosis / don’t-care filling / register transfer level / pseudo Boolean optimization / design-for-diagnosability |
| 資料番号 | CPSY2020-62,DC2020-92 |
| 発行日 | 2021-03-18 (CPSY, DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY / DC / IPSJ-SLDM / IPSJ-EMB / IPSJ-ARC |
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| 開催期間 | 2021/3/25(から2日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | 組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2021 |
| テーマ（英） | ETNET2021 |
| 委員長氏名（和） | 入江 英嗣(東大) / 高橋 寛(愛媛大) / 中村 祐一(NEC) / / 井上 弘士(九大) |
| 委員長氏名（英） | Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) / Yuichi Nakamura(NEC) / / Hiroshi Inoue(Kyushu Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 鯉渕 道紘(NII) / 中島 耕太(富士通研) / 土屋 達弘(阪大) |
| 副委員長氏名（英） | Michihiro Koibuchi(NII) / Kota Nakajima(Fujitsu Lab.) / Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 高前田 伸也(東大) / 津邑 公暁(名工大) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 瀬戸 謙修(東京都市大) / 密山 幸男(高知工科大) / 君家 一紀(三菱電機) / 廣本 正之(富士通研) / / 今村 智(富士通研) / 塩谷 亮太(東大) / 谷本 輝夫(九大) / 新田 高庸(NTT) |
| 幹事氏名（英） | Shinya Takameda(Univ. of Tokyo) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Kenshu Seto(Tokyo City Univ.) / Yukio Mitsuyama(Kochi Univ. of Tech.) / Kazuki Oya(Mitsubishi Electric) / Masayuki Hiromoto(Fujistu Lab.) / / Satoshi Imamura(Fujitsu Lab.) / Ryota Shioya(Univ. of Tokyo) / Teruo Tanimoto(Kyushu Univ.) / Koyo Nitta(NTT) |
| 幹事補佐氏名（和） | 小川 周吾(日立) / 有間 英志(東大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Shugo Ogawa(Hitachi) / Eiji Arima(Univ. of Tokyo) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Dependable Computing / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology / Special Interest Group on Embedded Systems / Special Interest Group on System Architecture |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Don't Care Filling Method of Control Signals for Controllers to Enhance Fault Diagnosability at Register Transfer Level |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障診断 / fault diagnosis |
| キーワード(2)（和/英） | ドントケア割当て / don’t-care filling |
| キーワード(3)（和/英） | レジスタ転送レベル / register transfer level |
| キーワード(4)（和/英） | 疑似ブール最適化問題 / pseudo Boolean optimization |
| キーワード(5)（和/英） | 診断容易化設計 / design-for-diagnosability |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 土渕 航平 / Kohei Tsuchibuchi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山崎 浩二 / Koji Yamazaki |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 明治大学(略称：明大) Meiji University(略称：Meiji Univ.) |
| 発表年月日 | 2021-03-26 |
| 資料番号 | CPSY2020-62,DC2020-92 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | CPSY-435,DC-436 |
| ページ範囲 | pp.73-78(CPSY), pp.73-78(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2021-03-18 (CPSY, DC) |