講演名 2021-03-08
接触境界の表面粗さとトルク値がコネクタ高周波特性に与える影響に関する基礎検討
上田 浩行(奈良先端大), 鍛治 秀伍(奈良先端大), 藤本 大介(奈良先端大), キム ヨンウ(奈良先端大), 林 優一(奈良先端大),
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抄録(和) コネクタの摺動や振動により接触表面に摩耗が発生し、接触抵抗が増加することで、信号伝送性能が劣化するなどの悪影響を引き起こす問題が報告されている。一方、金属は塑性変形するため、接触表面が粗い金属に対して十分な接触荷重をかけることで信号伝送性能を維持できる可能性がある。本稿では、コネクタ接触部における接触荷重を制御し、コネクタを含む伝送線路の特性を評価可能な実験セットアップを構築し、接触表面が劣化した際にも良好な伝送特性を維持するための接触加重について検討を行う。
抄録(英) Wear occurs on the contact surface due to sliding and vibration of the connector. This increases the contact resistance, which has been reported to cause effects such as degradation of signal transmission performance. On the other hand, since metals deform plastically, applying sufficient contact force to metals with rough contact surfaces has the potential to maintain the signal transmission performance. In this paper, we build an experimental setup that can control the contact resistance at the contact boundary and evaluate the characteristics of the transmission line including the connector. Using this setup, we aim to show the contact force required to suppress the degradation of signal transmission.
キーワード(和) コネクタ / 接触力 / 接触抵抗 / 表面粗さ / Time domain reflectometry
キーワード(英) Connector / Contact force / Contact resistance / Contact roughness / Time domain reflectometry
資料番号 EMD2020-37
発行日 2021-03-01 (EMD)

研究会情報
研究会 EMD
開催期間 2021/3/8(から1日開催)
開催地(和) オンライン開催
開催地(英) Online
テーマ(和) ショートノート(卒論・修論特集)
テーマ(英) Short NOTE
委員長氏名(和) 萓野 良樹(電通大)
委員長氏名(英) Yoshiki Kayano(Univ. of Electro-Comm.)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和) 上野 貴博(日本工大)
幹事氏名(英) Takahiro Ueno(Nippon Inst. of Tech.)
幹事補佐氏名(和) 林 優一(奈良先端大) / 宮永 和明(富士通コンポーネント)
幹事補佐氏名(英) Yuichi Hayashi(NAIST) / Kazuaki Miyanaga(Fujitsu Component)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Electromechanical Devices
本文の言語 JPN
タイトル(和) 接触境界の表面粗さとトルク値がコネクタ高周波特性に与える影響に関する基礎検討
サブタイトル(和)
タイトル(英) Fundamental Study on Effect of Surface Roughness of Contact Boundary and Torque Value on High-Frequency Characteristics of Connectors
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) コネクタ / Connector
キーワード(2)(和/英) 接触力 / Contact force
キーワード(3)(和/英) 接触抵抗 / Contact resistance
キーワード(4)(和/英) 表面粗さ / Contact roughness
キーワード(5)(和/英) Time domain reflectometry / Time domain reflectometry
第 1 著者 氏名(和/英) 上田 浩行 / Hiroyuki Ueda
第 1 著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学(略称:奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology(略称:NAIST)
第 2 著者 氏名(和/英) 鍛治 秀伍 / Shugo Kaji
第 2 著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学(略称:奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology(略称:NAIST)
第 3 著者 氏名(和/英) 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto
第 3 著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学(略称:奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology(略称:NAIST)
第 4 著者 氏名(和/英) キム ヨンウ / Youngwoo Kim
第 4 著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学(略称:奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology(略称:NAIST)
第 5 著者 氏名(和/英) 林 優一 / Yuichi Hayashi
第 5 著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学(略称:奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology(略称:NAIST)
発表年月日 2021-03-08
資料番号 EMD2020-37
巻番号(vol) vol.120
号番号(no) EMD-425
ページ範囲 pp.40-43(EMD),
ページ数 4
発行日 2021-03-01 (EMD)