| 講演名 | 2021-03-18 ［奨励講演］探索型システム設計方式を用いたICTシステムの製品評価環境自動構築技術 田辺 和輝(NEC), 黒田 貴之(NEC), 里田 浩三(NEC), |
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| 抄録(和) | 本研究では，アプリケーションやネットワーク機器等のICTシステムを構成する製品の性能評価に必要となる，網羅的な評価環境を自動的に生成する技術を提案する．一般的な製品評価工程では，製品の機能要件・非機能要件の充足性を検証するため，様々な評価環境において網羅的な評価試験を行う必要がある．従来技術では，評価環境のバリエーション（評価パターン）毎に，人手による評価環境の要件定義，設計，構築が必要であり，技術者の工数的負担が大きい．提案アーキテクチャでは，評価パターンを規定するパラメータ（評価軸）および，評価環境において測定対象となる性能指標のパラメータ（評価項目）の2点からなる製品の定義情報（製品データ）を入力とし，製品毎に定義された評価環境のテンプレート（評価テンプレート）を用いて抽象的な評価環境（評価要件）を生成する．そして評価要件の抽象的要素を探索型システム設計方式により具体化することで，評価環境のシステム構成を自動的に構築可能である． |
| 抄録(英) | In this paper, we propose an automation technology to generate comprehensive testing environments for performance evaluation of ICT system component products e.g. applications and NW equipments. In general testing phase of product development, comprehensive performance tests have to be conducted on various testing environments for verifying products’ functional and non-functional requirements. Conventional performance tests require manual requirement definition, designing and deployment for each variation of testing environment (testing pattern), which puts heavy burden for engineers. Our proposed architecture accepts product data as an input, which consists of two types of parameters: parameters to determine testing pattern (testing axis) and performance parameters to be measured (testing criterion). Our architecture generates abstract testing environments (testing requirements) by referring to templates of testing environments (testing template). Finally, our search-based system design generation scheme automatically generates and deploys the testing environments, by refining abstract parts of testing requirements. |
| キーワード(和) | ICTシステム自動設計 / 製品検証 |
| キーワード(英) | ICT system design generation / product evaluation |
| 資料番号 | ICM2020-60 |
| 発行日 | 2021-03-11 (ICM) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICM |
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| 開催期間 | 2021/3/18(から2日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | エレメント管理，管理機能，理論・運用方法論，および一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 木下 和彦(徳島大) |
| 委員長氏名（英） | Kazuhiko Kinoshita(Tokushima Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 佐藤 陽一(OSL) / 大石 晴夫(NTT) |
| 副委員長氏名（英） | Yoichi Sato(OSL) / Haruo Ooishi(NTT) |
| 幹事氏名（和） | 瀬戸 三郎(NTT) / 中山 裕貴(ボスコ・テクノロジーズ) |
| 幹事氏名（英） | Saburo Seto(NTT) / Hiroki Nakayama(Bosco) |
| 幹事補佐氏名（和） | 内海 哲哉(富士通研) |
| 幹事補佐氏名（英） | Tetsuya Uchiumi(Fujitsu Lab.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Information and Communication Management |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ［奨励講演］探索型システム設計方式を用いたICTシステムの製品評価環境自動構築技術 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | [Encouragement Talk] An Automation Technology of Testing Environment Configuration for ICT System Products by Search-based System Design Generation Scheme |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ICTシステム自動設計 / ICT system design generation |
| キーワード(2)（和/英） | 製品検証 / product evaluation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 田辺 和輝 / Kazuki Tanabe |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社(略称：NEC) NEC Corporation(略称：NEC) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 黒田 貴之 / Takayuki Kuroda |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社(略称：NEC) NEC Corporation(略称：NEC) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 里田 浩三 / Kozo Satoda |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社(略称：NEC) NEC Corporation(略称：NEC) |
| 発表年月日 | 2021-03-18 |
| 資料番号 | ICM2020-60 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | ICM-433 |
| ページ範囲 | pp.7-12(ICM), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2021-03-11 (ICM) |