| 講演名 | 2021-02-05 マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法 中岡 典弘(愛媛大), 王 森レイ(愛媛大), 樋上 喜信(愛媛大), 高橋 寛(愛媛大), 岩田 浩幸(ルネサス エレクトロニクス), 前田 洋一(ルネサス エレクトロニクス), 松嶋 潤(ルネサス エレクトロニクス), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | DC2020-75 |
| 発行日 | 2021-01-29 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2021/2/5(から1日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) |
| 委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 土屋 達弘(阪大) |
| 副委員長氏名（英） | Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) |
| 幹事氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fault Coverage Estimation Method in Multi-Cycle Testing |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 中岡 典弘 / Norihiro Nakaoka |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 王 森レイ / Senling Wang |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 岩田 浩幸 / Hiroyuki Iwata |
| 第 5 著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス(略称：ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Corporation(略称：Renesas Electronics Corp.) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 前田 洋一 / Yoichi Maeda |
| 第 6 著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス(略称：ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Corporation(略称：Renesas Electronics Corp.) |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 松嶋 潤 / Jun Matsushima |
| 第 7 著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス(略称：ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Corporation(略称：Renesas Electronics Corp.) |
| 発表年月日 | 2021-02-05 |
| 資料番号 | DC2020-75 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | DC-358 |
| ページ範囲 | pp.36-41(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2021-01-29 (DC) |