| 講演名 | 2021-02-05 レジスタ転送レベルにおける非スキャンベースフィールドテスタビリティに基づく制御信号のドントケア割当て法 池ヶ谷 祐輝(日大), 石山 悠太(日大), 細川 利典(日大), 吉村 正義(京都産大), |
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| 抄録(和) | VLSI の経年劣化による障害を回避する手段の一つとして，機能動作時に回路の出力や内部信号線の値を監視するフィールドテストが用いられている．特に自動車に搭載されている VLSI に関しては，組込み自己テストを用いて，エンジンを起動時に短時間でテストを行う必要がある．組込み自己テストでは，一般的に高い故障検出率を得ることが可能なスキャン設計が用いられている．一方で，非スキャン設計と比較して，面積オーバヘッドとテスト実行時間が増大するという問題点が挙げられる．非スキャン設計ベースのフィールドテストにおいて，コントローラの各状態遷移を最低n回実行するための状態信号系列生成法が提案されている．本論文では，フィールドテストにおける故障検出率を向上させるための制御信号のドントケア割当て法を提案する．提案手法において，n 回状態遷移被覆の状態信号系列で，構造的記号シミュレーションを実行し，テストが未実行なハードウェア要素を特定し,そのハードウェア要素のテストを行うために制御信号のドントケアに論理値を割当てる． |
| 抄録(英) | A field testing that monitors the values of circuit outputs and internal signal lines during function mode is used as one of the means to avoid failures due to aging of VLSIs. Especially, VLSIs on automobiles needs to be tested in a short time when the engines are started, using built-in self-test. In built-in self-test, scan design which can obtain high fault coverage is generally used. However, there are problems such as large area overhead and long test execution time compared to non-scan design. In non-scan design-based field testing, a status signal sequence generation method to execute each state transition of the controller at least n times was proposed. In this paper, we propose a don't care filling method for control signals to increase fault coverage in field testing. In the proposed method, a structural symbolic simulation is performed with status signal sequences for n state transition cover, hardware elements which have not been tested are identified, and logic values are assigned to don't cares in control signals to test the hardware elements. |
| キーワード(和) | フィールドテスト / 非スキャン設計 / 構造的記号シミュレーション / 制御信号 / ドントケア割当て |
| キーワード(英) | field testing / non-scan design / structural symbolic simulation / control signals / don’t care filling |
| 資料番号 | DC2020-77 |
| 発行日 | 2021-01-29 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2021/2/5(から1日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) |
| 委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 土屋 達弘(阪大) |
| 副委員長氏名（英） | Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) |
| 幹事氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | レジスタ転送レベルにおける非スキャンベースフィールドテスタビリティに基づく制御信号のドントケア割当て法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Don't Care Filling Method of Control Signals Based on Non-scan Field Testability at Register Transfer Level |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | フィールドテスト / field testing |
| キーワード(2)（和/英） | 非スキャン設計 / non-scan design |
| キーワード(3)（和/英） | 構造的記号シミュレーション / structural symbolic simulation |
| キーワード(4)（和/英） | 制御信号 / control signals |
| キーワード(5)（和/英） | ドントケア割当て / don’t care filling |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 池ヶ谷 祐輝 / Yuki Ikegaya |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 石山 悠太 / Yuta Ishiyama |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 京都産業大学(略称：京都産大) Kyoto Sangyo University(略称：Kyoto Sangyo Univ.) |
| 発表年月日 | 2021-02-05 |
| 資料番号 | DC2020-77 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | DC-358 |
| ページ範囲 | pp.48-53(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2021-01-29 (DC) |