| 講演名 | 2021-02-05 A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch Design 馬 瑞君(九州工業大学), シュテファン ホルスト(九州工業大学), 温 暁青(九州工業大学), ? 愛斌(安徽大學), 徐 輝(安徽理工大學), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | As modern technology nodes become more and more susceptible to soft-errors, many radiation hardened latch designs have been proposed for reliable LSI designs. Production defects in such hardened latches are difficult to detect with conventional scan testing. In our previous work, we proposed a scan-test-aware hardened latch (STAHL) design which can tolerate soft-errors and has high defect coverage. However, STAHL has higher power and delay overhead than other hardened latches in the literature. In this paper, we propose a novel high performance and scan-test-aware hardened latch (HP-STAHL). Simulation results show that HP-STAHL provides for the first time the same benefits as STAHL in terms of soft-error tolerance and testability. HP-STAHL has lower delay and power delay product (PDP) than a standard latch, which shows that HP-STAHL has high performance. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | soft-errorscan testhardened latchdefect |
| 資料番号 | DC2020-71 |
| 発行日 | 2021-01-29 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2021/2/5(から1日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) |
| 委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 土屋 達弘(阪大) |
| 副委員長氏名（英） | Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) |
| 幹事氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch Design |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / soft-errorscan testhardened latchdefect |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 馬 瑞君 / Ruijun Ma |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九州工業大学) Kyushu Institute of Technology(略称：KIT) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | シュテファン ホルスト / Stefan Holst |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九州工業大学) Kyushu Institute of Technology(略称：KIT) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九州工業大学) Kyushu Institute of Technology(略称：KIT) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | ? 愛斌 / Aibin Yan |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 安徽大學(略称：安徽大學) Anhui University(略称：AHU) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 徐 輝 / Hui Xu |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 安徽理工大學(略称：安徽理工大學) Anhui University of Science & Technology(略称：AUST) |
| 発表年月日 | 2021-02-05 |
| 資料番号 | DC2020-71 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | DC-358 |
| ページ範囲 | pp.12-17(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2021-01-29 (DC) |