| 講演名 | 2021-01-25 DC-DCコンバータの経年劣化検出について 古賀 泰之(長崎総合科学大), 古川 雄大(福岡大), 梶原 一宏(長崎総合科学大), 松井 信正(長崎総合科学大), 黒川 不二雄(長崎総合科学大), 中島 善康(富士通アドバンストテクノロジ), 米澤 遊(富士通アドバンストテクノロジ), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 近年，情報通信サービスは発展を続けており，電力供給部分においても通信サービスを発展させるための一つの課題となっている．また，情報通信用に用いられているスイッチング電源は絶え間なく動作を続けているため，スイッチング電源には第一条件として高い信頼性が必要となっている．本論文では，高い信頼性を実現するために，DC-DCコンバータの内部抵抗を推定する劣化診断手法を提案する．提案方式は，ディジタルPID制御器の積分演算値を用いることにより，オン時間の検出では難しい場合でも劣化診断および故障予測を実現することができる． |
| 抄録(英) | In recent years, information and communication services have continued to develop, and the power supply is one of their issues. The switching power supply in this application continues to operate continuously and is needed high reliability as the first condition. In this paper, the degradation diagnosis method to estimate the internal resistance of DC-DC converters is proposed to achieve high reliability. In the proposed method, degradation diagnosis and fault prediction can be achieved by using the integral calculation value of digital PID controller, even when it is difficult to detect the on-time. |
| キーワード(和) | DC-DCコンバータ / 劣化診断 / ディジタル制御 |
| キーワード(英) | DC-DC converter / Degradation Diagnosis / Digital Control |
| 資料番号 | EE2020-27 |
| 発行日 | 2021-01-18 (EE) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EE |
|---|---|
| 開催期間 | 2021/1/25(から1日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | 回路技術及び高効率エネルギー変換技術関連、一般 |
| テーマ（英） | DC/DC converter, New circuit for power conversion and control, others |
| 委員長氏名（和） | 末次 正(福岡大) |
| 委員長氏名（英） | Tadashi Suetsugu(Fukuoka Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 関屋 大雄(千葉大) / 廣瀬 圭一(NTTファシリティーズ) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroo Sekiya(Chiba Univ.) / Keiichi Hirose(NTT Facilities) |
| 幹事氏名（和） | 坂井 栄治(崇城大) / 松井 信正(長崎総科大) |
| 幹事氏名（英） | Eiji Sakai(Sojo Univ.) / Nobumasa Matsui(Nagasaki Inst. of Applied Science) |
| 幹事補佐氏名（和） | 米澤 遊(富士通アドバンストテクノロジ) / 古川 雄大(福岡大学) / 湯淺 一史(NTTファシリティーズ) |
| 幹事補佐氏名（英） | Yuu Yonezawa(FUJITSU Advanced Technologies) / Yudai Furukawa(Fukuoka Univ.) / Kazufumi Yuasa(NTT Facilities) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Energy Engineering in Electronics and Communications |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | DC-DCコンバータの経年劣化検出について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Aged Deterioration Detection of DC-DC Converter |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | DC-DCコンバータ / DC-DC converter |
| キーワード(2)（和/英） | 劣化診断 / Degradation Diagnosis |
| キーワード(3)（和/英） | ディジタル制御 / Digital Control |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 古賀 泰之 / Yasuyuki Koga |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 長崎総合科学大学(略称：長崎総合科学大) Nagasaki Institute of Applied Science(略称：NiAS) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 古川 雄大 / Yudai Furukawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 福岡大学(略称：福岡大) Fukuoka University(略称：Fukuoka University) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 梶原 一宏 / Kazuhiro Kajiwara |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 長崎総合科学大学(略称：長崎総合科学大) Nagasaki Institute of Applied Science(略称：NiAS) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 松井 信正 / Nobumasa Matsui |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 長崎総合科学大学(略称：長崎総合科学大) Nagasaki Institute of Applied Science(略称：NiAS) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 黒川 不二雄 / Fujio Kurokawa |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 長崎総合科学大学(略称：長崎総合科学大) Nagasaki Institute of Applied Science(略称：NiAS) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 中島 善康 / Yoshiyasu Nakashima |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 富士通アドバンストテクノロジ株式会社(略称：富士通アドバンストテクノロジ) FUJITSU Advanced Technology Limited(略称：FUJITSU Advanced Technology) |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 米澤 遊 / Yu Yonezawa |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 富士通アドバンストテクノロジ株式会社(略称：富士通アドバンストテクノロジ) FUJITSU Advanced Technology Limited(略称：FUJITSU Advanced Technology) |
| 発表年月日 | 2021-01-25 |
| 資料番号 | EE2020-27 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | EE-340 |
| ページ範囲 | pp.22-26(EE), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2021-01-18 (EE) |