講演名 2021-01-25
OD-ICAを利用した圧縮センシング脳波計測フレームワークにおけるICAアルゴリズムの比較
奥村 渡(阪大), 兼本 大輔(阪大), 毎田 修(阪大), 廣瀬 哲也(阪大),
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抄録(和) 無線型の脳波計測装置における軽量化及び長時間の測定を可能にするには、脳波計の消費電力削減が必要となる。そこで我々は圧縮センシングを用いることで無線脳波計測フレームワークにおける消費電力の削減を目指している。しかし圧縮センシングにおいて瞬きによるアーチファクトの混入は、圧縮したEEGを高い精度で復元する上で重大な課題となっている。そこで瞬きによるアーチファクトを取り除く方法として外れ値検知を用いた独立成分分析法(OD-ICA)という方法が提案されている。本研究ではOD-ICAに用いる3種類の独立成分分析アルゴリズムを比較検討し、本フレームワークに適したアルゴリズムを明らかにする。
抄録(英) Compressed sensing gives reduction of power consumption for electroencephalogram (EEG) measurement system. However, ocular artifacts(OA) for compressed EEG signals cause a serious problem in reconstruction of compressed EEG signal with high accuracy. Therefore, an independent component analysis method using outlier detection (OD-ICA) has been proposed as a method for removing OA. The purpose of this study is to compare and examine three types of independent component analysis algorithms used for OD-ICA and select an algorithm suitable for this framework.
キーワード(和) 脳波 / 圧縮センシング / 独立成分分析 / 外れ値検知 / アーチファクト
キーワード(英) Electroencephalography / Compressed Sensing / Independent Component Analysis / Outlier Detection / Artifact
資料番号 VLD2020-52,CPSY2020-35,RECONF2020-71
発行日 2021-01-18 (VLD, CPSY, RECONF)

研究会情報
研究会 CPSY / RECONF / VLD / IPSJ-ARC / IPSJ-SLDM
開催期間 2021/1/25(から2日開催)
開催地(和) オンライン開催
開催地(英) Online
テーマ(和) FPGA 応用および一般
テーマ(英) FPGA Applications, etc.
委員長氏名(和) 入江 英嗣(東大) / 柴田 裕一郎(長崎大) / 福田 大輔(富士通研) / 井上 弘士(九大) / 中村 祐一(NEC)
委員長氏名(英) Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Hiroshi Inoue(Kyushu Univ.) / Yuichi Nakamura(NEC)
副委員長氏名(和) 鯉渕 道紘(NII) / 中島 耕太(富士通研) / 佐野 健太郎(理研) / 山口 佳樹(筑波大) / 小林 和淑(京都工繊大)
副委員長氏名(英) Michihiro Koibuchi(NII) / Kota Nakajima(Fujitsu Lab.) / Kentaro Sano(RIKEN) / Yoshiki Yamaguchi(Tsukuba Univ.) / Kazutoshi Kobayashi(Kyoto Inst. of Tech.)
幹事氏名(和) 高前田 伸也(北大) / 津邑 公暁(名工大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 小林 悠記(NEC) / 桜井 祐市(日立) / 兼本 大輔(大阪大学) / 今村 智(富士通研) / 塩谷 亮太(名大) / 谷本 輝夫(九大) / 新田 高庸(NTT) / 瀬戸 謙修(東京都市大) / 密山 幸男(高知工科大) / 君家 一紀(三菱電機) / 廣本 正之(富士通研)
幹事氏名(英) Shinya Takameda(Hokkaido Univ.) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Yuichi Sakurai(Hitachi) / Daisuke Kanemoto(Osaka Univ.) / Satoshi Imamura(Fujitsu lab.) / Ryota Shioya(Nagoya Univ.) / Teruo Tanimoto(Kyushu Univ.) / Koyo Nitta(NTT) / Kenshu Seto(Tokyo City Univ.) / Yukio Mitsuyama(Kochi Univ. of Tech.) / Kazuki Oya(Mitsubishi Electric) / Masayuki Hiromoto(Fujistu Lab.)
幹事補佐氏名(和) 小川 周吾(日立) / 有間 英志(東大) / 中原 啓貴(東工大) / 竹村 幸尚(インテル) / 西元 琢真(日立)
幹事補佐氏名(英) Shugo Ogawa(Hitachi) / Eiji Arima(Univ. of Tokyo) / Hiroki Nakahara(Tokyo Inst. of Tech.) / Yukitaka Takemura(INTEL) / Takuma Nishimoto(Hitachi)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on VLSI Design Technologies / Special Interest Group on System Architecture / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology
本文の言語 JPN
タイトル(和) OD-ICAを利用した圧縮センシング脳波計測フレームワークにおけるICAアルゴリズムの比較
サブタイトル(和)
タイトル(英) Comparison of ICA Algorithms in the Compressed Sensing EEG Measurement Framework Using OD-ICA
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 脳波 / Electroencephalography
キーワード(2)(和/英) 圧縮センシング / Compressed Sensing
キーワード(3)(和/英) 独立成分分析 / Independent Component Analysis
キーワード(4)(和/英) 外れ値検知 / Outlier Detection
キーワード(5)(和/英) アーチファクト / Artifact
第 1 著者 氏名(和/英) 奥村 渡 / Wataru Okumura
第 1 著者 所属(和/英) 大阪大学(略称:阪大)
Osaka University(略称:Osaka Univ)
第 2 著者 氏名(和/英) 兼本 大輔 / Daisuke Kanemoto
第 2 著者 所属(和/英) 大阪大学(略称:阪大)
Osaka University(略称:Osaka Univ)
第 3 著者 氏名(和/英) 毎田 修 / Osamu Maida
第 3 著者 所属(和/英) 大阪大学(略称:阪大)
Osaka University(略称:Osaka Univ)
第 4 著者 氏名(和/英) 廣瀬 哲也 / Tetsuya Hirose
第 4 著者 所属(和/英) 大阪大学(略称:阪大)
Osaka University(略称:Osaka Univ)
発表年月日 2021-01-25
資料番号 VLD2020-52,CPSY2020-35,RECONF2020-71
巻番号(vol) vol.120
号番号(no) VLD-337,CPSY-338,RECONF-339
ページ範囲 pp.75-79(VLD), pp.75-79(CPSY), pp.75-79(RECONF),
ページ数 5
発行日 2021-01-18 (VLD, CPSY, RECONF)