| 講演名 | 2021-03-02 ［依頼講演］遅延発光法によるOLED解析 高田 徳幸(産総研), 奥本 肇(産総研), |
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| 抄録(和) | Alq3有機EL素子に遅延発光法を適用することで、印加電圧オフ後10ms〜約10分間におよび持続する発光のスペクトル計測に成功した。非常に微弱な発光を検出するため、高感度なフーリエ変換型干渉分光計を用いた。1μs〜数msの比較的短い遅延時間帯では、通常（定常状態）観測されるELスペクトルとほぼ一致した。これは、三重項-三重項消滅（TTA）由来の遅延蛍光が生じていることを示唆している。一方、10msの遅延時間を越えると、蛍光スペクトルとは明らかに異なる長波長シフトした発光スペクトルが得られた。この発光は、深いトラップ準位を経由した電荷再結合に起因していると考えられる。フリーな電荷の再結合とは異なり、Alq3分子のS1準位形成に必要なエネルギーを供給できず、T1準位のみが励起されたと考えている。 |
| 抄録(英) | By applying the delayed emission method to the Alq3 organic EL device, we succeeded in measuring the emission spectrum with a delay time exceeding 10ms ~ about 10 minutes after the applied voltage was turned off. Due to detect remarkable weak light, we have utilized a highly sensitive Fourier transform interference spectrometer. The emission spectra measured at a short delay time less than 10ms were almost the same as the steady-state EL spectrum. This fact suggests the formation of delayed-fluorescence via triplet-triplet annihilation. On the other hand, when the delay time exceeds 10ms, a red-shifted emission spectrum clearly different from the fluorescence spectrum was obtained. This emission would be produced by charge recombination at the deep trap state. Unlike free-charge recombination, it cannot provide the energy required for S1 level formation, but it suggests that the T1 level can be excited. |
| キーワード(和) | 遅延発光 / フーリエ変換型干渉分光計 / 燐光 / 電荷再結合 / 電荷トラップ |
| キーワード(英) | delayed emission / FT interferometer / phosphorescence / charge-recombination / charge trap |
| 資料番号 | OME2020-26 |
| 発行日 | 2021-02-22 (OME) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME / IEE-DEI |
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| 開催期間 | 2021/3/1(から2日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | 有機材料・薄膜、有機デバイス、一般 |
| テーマ（英） | Organic Molecular Electronics |
| 委員長氏名（和） | 真島 豊(東工大) / 早川 直樹(名古屋大学) |
| 委員長氏名（英） | Yutaka Majima(Tokyo Inst. of Tech.) / 早川 直樹(名古屋大学) |
| 副委員長氏名（和） | 山田 俊樹(NICT) |
| 副委員長氏名（英） | Toshiki Yamada(NICT) |
| 幹事氏名（和） | 梶井 博武(阪大) / 田口 大(東工大) / 関口 洋逸(住友電気工業) / 髙橋 俊裕(電力中央研究所) |
| 幹事氏名（英） | Hirotake Kajii(Osaka Univ.) / Dai Taguchi(Tokyo Inst. of Tech.) / 関口 洋逸(住友電気工業) / 髙橋 俊裕(電力中央研究所) |
| 幹事補佐氏名（和） | 嘉治 寿彦(東京農工大) / 清家 善之(愛知工大) / 早瀬 悠二(富士電機) / 村上 義信(豊橋技術科学大学) |
| 幹事補佐氏名（英） | Toshihiko Kaji(Tokyo Univ. of Agriculture and Tech.) / Yoshiyuki Seike(Aichi Inst. of Tech.) / 早瀬 悠二(富士電機) / 村上 義信(豊橋技術科学大学) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Organic Molecular Electronics / Technical Meeting on Dielectrics and Electrical Insulation |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ［依頼講演］遅延発光法によるOLED解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | [Invited Lecture] Analysis of OLEDs using delayed luminescence method |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遅延発光 / delayed emission |
| キーワード(2)（和/英） | フーリエ変換型干渉分光計 / FT interferometer |
| キーワード(3)（和/英） | 燐光 / phosphorescence |
| キーワード(4)（和/英） | 電荷再結合 / charge-recombination |
| キーワード(5)（和/英） | 電荷トラップ / charge trap |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 高田 徳幸 / Noriyuki Takada |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 奥本 肇 / Hajime Okumoto |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 発表年月日 | 2021-03-02 |
| 資料番号 | OME2020-26 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | OME-383 |
| ページ範囲 | pp.28-30(OME), |
| ページ数 | 3 |
| 発行日 | 2021-02-22 (OME) |