| 講演名 | 2020-12-04 Fundamental Evaluation of Impedance Variations in the Connector Caused by High-Frequency Noise Propagation 上田 浩行(奈良先端大), 鍛治 秀伍(奈良先端大), キム ヨンウ(奈良先端大), 藤本 大介(奈良先端大), 北澤 太基(長野高専), 春日 貴志(長野高専), 林 優一(奈良先端大), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | As the operating frequency of information devices increases, the noise generated by the device is also becoming broadband. Propagation of the broadband noise to connectors used for the interconnection of information devices causes electromagnetic (EM) radiation and degrades the immunity of the device, which affects the EM environment. Previous reports have evaluated the degradation of the EM environment by focusing on the part where impedance mismatched caused by aging and contact failure at the contact boundary of the connector. These reports show that the propagation of high-frequency signals to the contact boundary of the mismatched connector causes an increase in unintentional EM radiation and degrades the device immunity. On the other hand, in this paper, we evaluate the possibility of the EM environment degradation caused by the noise propagation including off-standard high-frequency to connectors that have a good contact condition, by observing impacts of the parasitic components to the electrical performance of the connector. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | Time domain reflectometryTDRhigh-frequency noiseparasitic components |
| 資料番号 | EMD2020-24 |
| 発行日 | 2020-11-27 (EMD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2020/12/4(から1日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | 国際セッションIS-EMD2020 (継電器・コンタクトテクノロジ研究会 共催) |
| テーマ（英） | International Session IS-EMD2020 |
| 委員長氏名（和） | 萓野 良樹(電通大) |
| 委員長氏名（英） | Yoshiki Kayano(Univ. of Electro-Comm.) |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | 上野 貴博(日本工大) |
| 幹事氏名（英） | Takahiro Ueno(Nippon Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 林 優一(奈良先端大) / 宮永 和明(富士通コンポーネント) |
| 幹事補佐氏名（英） | Yuichi Hayashi(ＮＡＩＳＴ) / Kazuaki Miyanaga(Fujitsu Component) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromechanical Devices |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fundamental Evaluation of Impedance Variations in the Connector Caused by High-Frequency Noise Propagation |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / Time domain reflectometryTDRhigh-frequency noiseparasitic components |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 上田 浩行 / Hiroyuki Ueda |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 鍛治 秀伍 / Shugo Kaji |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | キム ヨンウ / Youngwoo Kim |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 北澤 太基 / Taiki Kitazawa |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 長野工業高等専門学校(略称：長野高専) National Institute of Technology, Nagano College(略称：NIT,Nagano College)) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 春日 貴志 / Takashi Kasuga |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 長野工業高等専門学校(略称：長野高専) National Institute of Technology, Nagano College(略称：NIT,Nagano College)) |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yuichi Hayashi |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 発表年月日 | 2020-12-04 |
| 資料番号 | EMD2020-24 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | EMD-275 |
| ページ範囲 | pp.34-38(EMD), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2020-11-27 (EMD) |