講演名 | 2020-11-30 寿命分布の区間推定手順の考察 松岡 敏成(三菱電機), |
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キーワード(和) | |
キーワード(英) | |
資料番号 | R2020-25 |
発行日 | 2020-11-23 (R) |
研究会情報 | |
研究会 | R |
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開催期間 | 2020/11/30(から1日開催) |
開催地(和) | オンライン開催 |
開催地(英) | Online |
テーマ(和) | 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 |
テーマ(英) | Reliability of semiconductor and electronic devices, Reliability general |
委員長氏名(和) | 安里 彰(富士通) |
委員長氏名(英) | Akira Asato(Fujitsu) |
副委員長氏名(和) | 土肥 正(広島大) |
副委員長氏名(英) | Tadashi Dohi(Hiroshima Univ.) |
幹事氏名(和) | 田村 信幸(法政大) / 井上 真二(関西大) |
幹事氏名(英) | Nobuyuki Tamura(Hosei Univ.) / Shinji Inoue(Kansai Univ.) |
幹事補佐氏名(和) | 岡村 寛之(広島大) / 横川 慎二(電通大) |
幹事補佐氏名(英) | Hiroyuki Okamura(Hiroshima Univ.) / Shinji Yokogawa(Univ. of Electro-Comm.) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on Reliability |
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本文の言語 | JPN-ONLY |
タイトル(和) | 寿命分布の区間推定手順の考察 |
サブタイトル(和) | Rで発生させたワイブル分布の乱数の分析 |
タイトル(英) | |
サブタイトル(和) | * |
キーワード(1)(和/英) | |
第 1 著者 氏名(和/英) | 松岡 敏成 |
第 1 著者 所属(和/英) | 三菱電機株式会社(略称:三菱電機) |
発表年月日 | 2020-11-30 |
資料番号 | R2020-25 |
巻番号(vol) | vol.120 |
号番号(no) | R-267 |
ページ範囲 | pp.13-16(R), |
ページ数 | 4 |
発行日 | 2020-11-23 (R) |