講演名 2020-11-17
DET Flip-Flops with SEU Detection Capability Using DICE and C-Element
許 海稼(千葉大), 難波 一輝(千葉大),
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抄録(和) Abstract A dual-edge-triggered flip-flop (DET-FF) composed of DICE latch (Dual Interlocked Storage Cell) and C-element for SEU detection has been proposed in this article. The DICE latch has the ability to tolerate SNUs. This design can tolerate most of the SNU that may occur in DET-FF. In addition, this article also presents a circuit design that can detect soft-errors having not been detected by DET-FF. The proposed DET-FF reduces power consumption, while the DICE unit can always guarantee the characteristics of two stable nodes, so that the proposed circuit design can tolerate and detect soft-errors which occur in the circuit while reducing power consumption. The design has been simulated with CMOS circuit, and the results show that the DET-FF is tolerant to soft-errors and can detect SEU (Single Event Upset) events which affect the output results
抄録(英) Abstract A dual-edge-triggered flip-flop (DET-FF) composed of DICE latch (Dual Interlocked Storage Cell) and C-element for SEU detection has been proposed in this article. The DICE latch has the ability to tolerate SNUs. This design can tolerate most of the SNU that may occur in DET-FF. In addition, this article also presents a circuit design that can detect soft-errors having not been detected by DET-FF. The proposed DET-FF reduces power consumption, while the DICE unit can always guarantee the characteristics of two stable nodes, so that the proposed circuit design can tolerate and detect soft-errors which occur in the circuit while reducing power consumption. The design has been simulated with CMOS circuit, and the results show that the DET-FF is tolerant to soft-errors and can detect SEU (Single Event Upset) events which affect the output results
キーワード(和) Soft error / DICE / Dual-edge-triggered ?FF / Radiation tolerant latch / Low power
キーワード(英) Soft error / DICE / Dual-edge-triggered ?FF / Radiation tolerant latch / Low power
資料番号 VLD2020-14,ICD2020-34,DC2020-34,RECONF2020-33
発行日 2020-11-10 (VLD, ICD, DC, RECONF)

研究会情報
研究会 VLD / DC / RECONF / ICD / IPSJ-SLDM
開催期間 2020/11/17(から2日開催)
開催地(和) オンライン開催
開催地(英) Online
テーマ(和) デザインガイア2020 -VLSI設計の新しい大地-
テーマ(英) Design Gaia 2020 -New Field of VLSI Design-
委員長氏名(和) 福田 大輔(富士通研) / 高橋 寛(愛媛大) / 柴田 裕一郎(長崎大) / 永田 真(神戸大) / 中村 祐一(NEC)
委員長氏名(英) Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Yuichi Nakamura(NEC)
副委員長氏名(和) 小林 和淑(京都工繊大) / 土屋 達弘(阪大) / 佐野 健太郎(理研) / 山口 佳樹(筑波大) / 高橋 真史(キオクシア)
副委員長氏名(英) Kazutoshi Kobayashi(Kyoto Inst. of Tech.) / Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) / Kentaro Sano(RIKEN) / Yoshiki Yamaguchi(Tsukuba Univ.) / Masafumi Takahashi(masafumi2.takahashi@kioxia.com)
幹事氏名(和) 桜井 祐市(日立) / 兼本 大輔(大阪大学) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 小林 悠記(NEC) / 柘植 政利(ソシオネクスト) / 廣瀬 哲也(阪大) / 瀬戸 謙修(東京都市大) / 密山 幸男(高知工科大) / 君家 一紀(三菱電機) / 廣本 正之(富士通研)
幹事氏名(英) Yuichi Sakurai(Hitachi) / Daisuke Kanemoto(Osaka Univ.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Masatoshi Tsuge(Socionext) / Tetsuya Hirose(Osaka Univ.) / Kenshu Seto(Tokyo City Univ.) / Yukio Mitsuyama(Kochi Univ. of Tech.) / Kazuki Oya(Mitsubishi Electric) / Masayuki Hiromoto(Fujistu Lab.)
幹事補佐氏名(和) 西元 琢真(日立) / / 中原 啓貴(東工大) / 竹村 幸尚(インテル) / 新居 浩二(TSMCデザインテクノロジージャパン) / 宮地 幸祐(信州大) / 久保木 猛(九大)
幹事補佐氏名(英) Takuma Nishimoto(Hitachi) / / Hiroki Nakahara(Tokyo Inst. of Tech.) / Yukitaka Takemura(INTEL) / Koji Nii(TSMC) / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) / Takeshi Kuboki(Kyushu Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology
本文の言語 ENG
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) DET Flip-Flops with SEU Detection Capability Using DICE and C-Element
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) Soft error / Soft error
キーワード(2)(和/英) DICE / DICE
キーワード(3)(和/英) Dual-edge-triggered ?FF / Dual-edge-triggered ?FF
キーワード(4)(和/英) Radiation tolerant latch / Radiation tolerant latch
キーワード(5)(和/英) Low power / Low power
第 1 著者 氏名(和/英) 許 海稼 / Xu Haijia
第 1 著者 所属(和/英) 千葉大学(略称:千葉大)
Chiba University(略称:Chiba Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 難波 一輝 / Kazuteru Namba
第 2 著者 所属(和/英) 千葉大学(略称:千葉大)
Chiba University(略称:Chiba Univ.)
発表年月日 2020-11-17
資料番号 VLD2020-14,ICD2020-34,DC2020-34,RECONF2020-33
巻番号(vol) vol.120
号番号(no) VLD-234,ICD-235,DC-236,RECONF-237
ページ範囲 pp.18-23(VLD), pp.18-23(ICD), pp.18-23(DC), pp.18-23(RECONF),
ページ数 6
発行日 2020-11-10 (VLD, ICD, DC, RECONF)