講演名 | 2020-11-05 粗面の散乱を用いた微小欠陥の凹凸識別システム 有馬 秀三朗(北見工大), 杉坂 純一郎(北見工大), 田口 健治(北見工大), |
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資料番号 | EMT2020-31 |
発行日 | 2020-10-29 (EMT) |
研究会情報 | |
研究会 | EMT / IEE-EMT |
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開催期間 | 2020/11/5(から2日開催) |
開催地(和) | オンライン開催 |
開催地(英) | Video Conf. |
テーマ(和) | 電磁界理論一般 |
テーマ(英) | Electromagnetic Theory, etc. |
委員長氏名(和) | 平山 浩一(北見工大) / 松島 章(熊本大) |
委員長氏名(英) | Koichi Hirayama(Kitami Inst. of Tech.) / Akira Matsushima(Kumamoto Univ.) |
副委員長氏名(和) | 出口 博之(同志社大) |
副委員長氏名(英) | Hiroyuki Deguchi(Doshisha Univ.) |
幹事氏名(和) | 鈴木 敬久(都立大) / 中 良弘(宮崎大) / 黒木 啓之(都立産技高専) / 川口 秀樹(室蘭工大) |
幹事氏名(英) | Yukihisa Suzuki(Tokyo Metropolitan Univ.) / Yoshihiro Naka(Miyazaki Univ.) / Takashi Kuroki(Tokyo Metro. Coll. of Tech) / Hideki Kawaguchi(Muroran IT) |
幹事補佐氏名(和) | 新納 和樹(京大) / 杉坂 純一郎(北見工大) |
幹事補佐氏名(英) | Kazuki Niino(Kyoto Univ.) / Junichiro Sugisaka(Kitami Inst. of Tech.) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on Electromagnetic Theory / Technical Meeting on Electromagnetic Theory |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 粗面の散乱を用いた微小欠陥の凹凸識別システム |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Concave-convex discrimination system for small defects using scattering on rough surface |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | |
第 1 著者 氏名(和/英) | 有馬 秀三朗 / Shusaburo Arima |
第 1 著者 所属(和/英) | 北見工業大学(略称:北見工大) Kitami Institute of Technology(略称:Kitami of Tech.) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 杉坂 純一郎 / Jun-ichiro Sugisaka |
第 2 著者 所属(和/英) | 北見工業大学(略称:北見工大) Kitami Institute of Technology(略称:Kitami of Tech.) |
第 3 著者 氏名(和/英) | 田口 健治 / Kenji Taguchi |
第 3 著者 所属(和/英) | 北見工業大学(略称:北見工大) Kitami Institute of Technology(略称:Kitami of Tech.) |
発表年月日 | 2020-11-05 |
資料番号 | EMT2020-31 |
巻番号(vol) | vol.120 |
号番号(no) | EMT-221 |
ページ範囲 | pp.21-25(EMT), |
ページ数 | 5 |
発行日 | 2020-10-29 (EMT) |