講演名 | 2020-11-18 不揮発フリップフロップを利用した個体認証技術PUFの検討とモデル化攻撃への耐性評価 石原 浩樹(芝浦工大), 宇佐美 公良(芝浦工大), |
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抄録(和) | 近年、LSIの模造品が問題となっており、LSIの製造ばらつきを利用したセキュリティ技術としてPUFが盛んに研究されている。本研究では、Magnetic Tunnel Junction (MTJ)素子の製造ばらつきに着目し、MTJ素子を用いた不揮発性フリップフロップの書き込み時間のばらつきを利用したPUFの回路構造を検討した。提案回路では、Uniquenessを約50%にすることに成功した。また、SVMを用いた機械学習に対する攻撃耐性も明らかにした。 |
抄録(英) | In recent years, imitative LSIs have become a serious problem and security technology PUF to use manufacturing variability of LSIs has been extensively researched. In this study, we investigated a PUF circuit structure to use an Magnetic Tunnel Junction(MTJ)-based Non-Volatile Flip-Flop and achieved the uniqueness about 50%. We also revealed the resistance to the Machine Learning attack using SVM. |
キーワード(和) | PUF / MTJ / 不揮発性フリップフロップ / セキュリティ / SVM |
キーワード(英) | PUF / MTJ / Non-volatile Flip-Flop / Security / SVM |
資料番号 | VLD2020-37,ICD2020-57,DC2020-57,RECONF2020-56 |
発行日 | 2020-11-10 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
研究会情報 | |
研究会 | VLD / DC / RECONF / ICD / IPSJ-SLDM |
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開催期間 | 2020/11/17(から2日開催) |
開催地(和) | オンライン開催 |
開催地(英) | Online |
テーマ(和) | デザインガイア2020 -VLSI設計の新しい大地- |
テーマ(英) | Design Gaia 2020 -New Field of VLSI Design- |
委員長氏名(和) | 福田 大輔(富士通研) / 高橋 寛(愛媛大) / 柴田 裕一郎(長崎大) / 永田 真(神戸大) / 中村 祐一(NEC) |
委員長氏名(英) | Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Yuichi Nakamura(NEC) |
副委員長氏名(和) | 小林 和淑(京都工繊大) / 土屋 達弘(阪大) / 佐野 健太郎(理研) / 山口 佳樹(筑波大) / 高橋 真史(キオクシア) |
副委員長氏名(英) | Kazutoshi Kobayashi(Kyoto Inst. of Tech.) / Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) / Kentaro Sano(RIKEN) / Yoshiki Yamaguchi(Tsukuba Univ.) / Masafumi Takahashi(masafumi2.takahashi@kioxia.com) |
幹事氏名(和) | 桜井 祐市(日立) / 兼本 大輔(大阪大学) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 小林 悠記(NEC) / 柘植 政利(ソシオネクスト) / 廣瀬 哲也(阪大) / 瀬戸 謙修(東京都市大) / 密山 幸男(高知工科大) / 君家 一紀(三菱電機) / 廣本 正之(富士通研) |
幹事氏名(英) | Yuichi Sakurai(Hitachi) / Daisuke Kanemoto(Osaka Univ.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Masatoshi Tsuge(Socionext) / Tetsuya Hirose(Osaka Univ.) / Kenshu Seto(Tokyo City Univ.) / Yukio Mitsuyama(Kochi Univ. of Tech.) / Kazuki Oya(Mitsubishi Electric) / Masayuki Hiromoto(Fujistu Lab.) |
幹事補佐氏名(和) | 西元 琢真(日立) / / 中原 啓貴(東工大) / 竹村 幸尚(インテル) / 新居 浩二(TSMCデザインテクノロジージャパン) / 宮地 幸祐(信州大) / 久保木 猛(九大) |
幹事補佐氏名(英) | Takuma Nishimoto(Hitachi) / / Hiroki Nakahara(Tokyo Inst. of Tech.) / Yukitaka Takemura(INTEL) / Koji Nii(TSMC) / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) / Takeshi Kuboki(Kyushu Univ.) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 不揮発フリップフロップを利用した個体認証技術PUFの検討とモデル化攻撃への耐性評価 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Physically Unclonable Functions(PUF) curcuit using Non-Volatile Flip-Flop and security evaluation against modeling attacks |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | PUF / PUF |
キーワード(2)(和/英) | MTJ / MTJ |
キーワード(3)(和/英) | 不揮発性フリップフロップ / Non-volatile Flip-Flop |
キーワード(4)(和/英) | セキュリティ / Security |
キーワード(5)(和/英) | SVM / SVM |
第 1 著者 氏名(和/英) | 石原 浩樹 / Hiroki Ishihara |
第 1 著者 所属(和/英) | 芝浦工業大学(略称:芝浦工大) Shibaura Institute of Technorogy(略称:Shibaura IT) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 宇佐美 公良 / Kimiyoshi Usami |
第 2 著者 所属(和/英) | 芝浦工業大学(略称:芝浦工大) Shibaura Institute of Technorogy(略称:Shibaura IT) |
発表年月日 | 2020-11-18 |
資料番号 | VLD2020-37,ICD2020-57,DC2020-57,RECONF2020-56 |
巻番号(vol) | vol.120 |
号番号(no) | VLD-234,ICD-235,DC-236,RECONF-237 |
ページ範囲 | pp.139-144(VLD), pp.139-144(ICD), pp.139-144(DC), pp.139-144(RECONF), |
ページ数 | 6 |
発行日 | 2020-11-10 (VLD, ICD, DC, RECONF) |