| 講演名 | 2020-10-12 C-elementを用いた耐ソフトエラー性を有するSRラッチ 中田 惟吹(千葉大), 難波 一輝(千葉大), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 近年のVLSIは微細化，高集積化が進んでいる．それに伴い消費電力，臨海電荷量が低下している．そのため，ソフトエラーの発生率が増加している．ソフトエラーはα粒子や中性子などの高エネルギー粒子が回路に衝突することにより発生する一時的なエラーを指す．近年の研究ではソフトエラーに耐性を持つ手法が数多く提案されている．しかし，ソフトエラー耐性ラッチは主にDラッチについて提案されている．そこで，本論ではDラッチの従来手法で用いられているC-element構造をもとに，SRラッチに用いることができる構造，また，この構造を従来のソフトエラー耐性を持つDラッチに適用した単一のソフトエラーに耐性を持つSRラッチを提案する． |
| 抄録(英) | VLSI systems have become downsized, high integrated and low-power. As a result, the incidence of soft errors is increasing. A soft error is a temporary event caused by striking of α-rays and high energy neutron radiation. To resolve this issue, researchers have presented several soft error tolerate schemes. Most of them provided construction of D latches. This paper presents soft error tolerant SR latch, which uses a new class of C-elements. |
| キーワード(和) | ソフトエラー / C-element / SRラッチ |
| キーワード(英) | soft error / C-element / SR latch |
| 資料番号 | CPSY2020-19,DC2020-19 |
| 発行日 | 2020-10-05 (CPSY, DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC / CPSY / IPSJ-ARC |
|---|---|
| 開催期間 | 2020/10/12(から1日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | HotSPA2020: アーキテクチャ，コンピュータシステム，ディペンダブルコンピューティングおよび一般 |
| テーマ（英） | Architecture, Computer Systems, Dependable Computing, etc. (HotSPA2020) |
| 委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) / 入江 英嗣(東大) / 井上 弘士(九大) |
| 委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Hiroshi Inoue(Kyushu Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 土屋 達弘(阪大) / 鯉渕 道紘(NII) / 中島 耕太(富士通研) |
| 副委員長氏名（英） | Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) / Michihiro Koibuchi(NII) / Kota Nakajima(Fujitsu Lab.) |
| 幹事氏名（和） | 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 高前田 伸也(北大) / 津邑 公暁(名工大) / 近藤 正章(東大) / 塩谷 亮太(名大) / 田中 美帆(富士通研) / 長谷川 揚平(東芝メモリ) |
| 幹事氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Shinya Takameda(Hokkaido Univ.) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) / Masaaki Kondo(Univ. of Tokyo) / Ryota Shioya(Nagoya Univ.) / Miho Tanaka(Fujitsu Labs.) / Yohei Hasegawa(Toshiba Memory) |
| 幹事補佐氏名（和） | / 小川 周吾(日立) / 有間 英志(東大) |
| 幹事補佐氏名（英） | / Shugo Ogawa(Hitachi) / Eiji Arima(Univ. of Tokyo) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Computer Systems / Special Interest Group on System Architecture |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | C-elementを用いた耐ソフトエラー性を有するSRラッチ |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Soft error tolerant SR latch using C-element |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトエラー / soft error |
| キーワード(2)（和/英） | C-element / C-element |
| キーワード(3)（和/英） | SRラッチ / SR latch |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 中田 惟吹 / Ibuki Nakata |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 千葉大学(略称：千葉大) Chiba University(略称：Chiba Univ) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 難波 一輝 / Kazuteru Namba |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 千葉大学(略称：千葉大) Chiba University(略称：Chiba Univ) |
| 発表年月日 | 2020-10-12 |
| 資料番号 | CPSY2020-19,DC2020-19 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | CPSY-188,DC-189 |
| ページ範囲 | pp.12-15(CPSY), pp.12-15(DC), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2020-10-05 (CPSY, DC) |