| 講演名 | 2020-11-17 LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究 大庭 涼(九工大), 星野 竜(九工大), 宮瀬 紘平(九工大), 温 暁青(九工大), 梶原 誠司(九工大), |
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| 抄録(和) | LSIテストでは通常動作時に比べて信号値遷移が多く発生するため，消費電力が増加する．消費電力が増加すると過度なIR-dropが発生し，遅延値が過度に増大し誤テストを引き起こす原因となる．過度なIR-dropは回路全体に発生するのではなく，信号値遷移が密集しているエリアで発生する．よって，誤テストの原因となる過度なIR-dropを効率的に削減するためには，信号値遷移が密集するエリアをLSIの設計時に特定し対処することが重要である．本稿では，LSI設計データの論理ゲートの組合せに対する信号値遷移確率に着目することで，信号値遷移が密集しやすいエリアを特定する手法を提案する． |
| 抄録(英) | Power consumption in LSI testing is higher than in functional mode since more switching activities occur. High power consumption causes excessive IR-drop and excessive delay, resulting in test malfunction. Excessive IR-drop does not uniformly occur in the whole area of circuit, but in certain areas where many switching activities occur. Therefore, it is important for efficient reduction of excessive IR-drop to locate areas where many switching activities occur during LSI testing. In this work, we propose a method to locate areas where many switching activities occur by focusing on the probability calculation for the combination of several logic gates in LSI design data. |
| キーワード(和) | 実速度テスト / テスト時の消費電力 / IR-Drop / 遷移遅延故障テスト / 誤テスト / 信号値遷移確率 |
| キーワード(英) | at-speed testing / test power / IR-drop / transition delay test / test malfunction / probability of switching activity |
| 資料番号 | VLD2020-13,ICD2020-33,DC2020-33,RECONF2020-32 |
| 発行日 | 2020-11-10 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / DC / RECONF / ICD / IPSJ-SLDM |
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| 開催期間 | 2020/11/17(から2日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | デザインガイア2020 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2020 -New Field of VLSI Design- |
| 委員長氏名（和） | 福田 大輔(富士通研) / 高橋 寛(愛媛大) / 柴田 裕一郎(長崎大) / 永田 真(神戸大) / 中村 祐一(NEC) |
| 委員長氏名（英） | Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Yuichi Nakamura(NEC) |
| 副委員長氏名（和） | 小林 和淑(京都工繊大) / 土屋 達弘(阪大) / 佐野 健太郎(理研) / 山口 佳樹(筑波大) / 高橋 真史(キオクシア) |
| 副委員長氏名（英） | Kazutoshi Kobayashi(Kyoto Inst. of Tech.) / Tatsuhiro Tsuchiya(Osaka Univ.) / Kentaro Sano(RIKEN) / Yoshiki Yamaguchi(Tsukuba Univ.) / Masafumi Takahashi(masafumi2.takahashi@kioxia.com) |
| 幹事氏名（和） | 桜井 祐市(日立) / 兼本 大輔(大阪大学) / 新井 雅之(日大) / 難波 一輝(千葉大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 小林 悠記(NEC) / 柘植 政利(ソシオネクスト) / 廣瀬 哲也(阪大) / 瀬戸 謙修(東京都市大) / 密山 幸男(高知工科大) / 君家 一紀(三菱電機) / 廣本 正之(富士通研) |
| 幹事氏名（英） | Yuichi Sakurai(Hitachi) / Daisuke Kanemoto(Osaka Univ.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Kazuteru Namba(Chiba Univ.) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Masatoshi Tsuge(Socionext) / Tetsuya Hirose(Osaka Univ.) / Kenshu Seto(Tokyo City Univ.) / Yukio Mitsuyama(Kochi Univ. of Tech.) / Kazuki Oya(Mitsubishi Electric) / Masayuki Hiromoto(Fujistu Lab.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 西元 琢真(日立) / / 中原 啓貴(東工大) / 竹村 幸尚(インテル) / 新居 浩二(TSMCデザインテクノロジージャパン) / 宮地 幸祐(信州大) / 久保木 猛(九大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Takuma Nishimoto(Hitachi) / / Hiroki Nakahara(Tokyo Inst. of Tech.) / Yukitaka Takemura(INTEL) / Koji Nii(TSMC) / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) / Takeshi Kuboki(Kyushu Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Power Analysis Based on Probability Calculation of Small Regions in LSI |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 実速度テスト / at-speed testing |
| キーワード(2)（和/英） | テスト時の消費電力 / test power |
| キーワード(3)（和/英） | IR-Drop / IR-drop |
| キーワード(4)（和/英） | 遷移遅延故障テスト / transition delay test |
| キーワード(5)（和/英） | 誤テスト / test malfunction |
| キーワード(6)（和/英） | 信号値遷移確率 / probability of switching activity |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 大庭 涼 / Ryo Oba |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 星野 竜 / Ryu Hoshino |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 発表年月日 | 2020-11-17 |
| 資料番号 | VLD2020-13,ICD2020-33,DC2020-33,RECONF2020-32 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | VLD-234,ICD-235,DC-236,RECONF-237 |
| ページ範囲 | pp.12-17(VLD), pp.12-17(ICD), pp.12-17(DC), pp.12-17(RECONF), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2020-11-10 (VLD, ICD, DC, RECONF) |