| 講演名 | 2020-10-26 意図的に引き起こされる電磁的情報漏えい評価法の検討 鍛治 秀伍(奈良先端大), 藤本 大介(奈良先端大), 衣川 昌宏(福知山公立大), 林 優一(奈良先端大), |
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| 抄録(和) | 機器に対する特定周波数の電磁波の印加により、機器内部の情報を含む漏えい電磁波の放射強度を制御する脅威が報告されている。本稿では、脅威の対象となる機器について検討するために、情報漏えい源となるデジタルICの出力回路を模擬した評価系を構築し、漏えいを誘発するために印加される電磁波に対する出力回路の感度を周波数領域で評価した。評価系を用いた実験の結果、500 MHz ? 1.2 GHzの範囲で電磁的情報漏えいが確認された。 |
| 抄録(英) | New threats have been shown to cause information leakage by irradiating electromagnetic (EM) waves of specific intensity and frequency to devices. To clarify this threat's target, we develop a simplified evaluation system for the output circuits of digital ICs as a leakage source and evaluate the sensitivity of the output circuit against EM waves to induce EM leakage in the frequency domain. The result of the experiment shows that EM leakage was confirmed in the range of 500 MHz to 1.2 GHz; we have shown that the attack works with specific frequency bands. |
| キーワード(和) | 電磁的情報漏えい / TEMPEST / 意図的な電磁妨害 |
| キーワード(英) | Electromagnetic Information Leakage / TEMPEST / Intentional Electromagnetic Interference / IEMI |
| 資料番号 | HWS2020-27,ICD2020-16 |
| 発行日 | 2020-10-19 (HWS, ICD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD / HWS |
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| 開催期間 | 2020/10/26(から1日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | ハードウェアセキュリティ，一般 |
| テーマ（英） | Hardware Security, etc. |
| 委員長氏名（和） | 永田 真(神戸大) / 池田 誠(東大) |
| 委員長氏名（英） | Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) |
| 副委員長氏名（和） | 高橋 真史(キオクシア) / 島崎 靖久(ルネサスエレクトロニクス) / 永田 真(神戸大) |
| 副委員長氏名（英） | Masafumi Takahashi(masafumi2.takahashi@kioxia.com) / Yasuhisa Shimazaki(Renesas Electronics) / Makoto Nagata(Kobe Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 柘植 政利(ソシオネクスト) / 廣瀬 哲也(阪大) / 小野 貴継(九大) / 高橋 順子(NTT) |
| 幹事氏名（英） | Masatoshi Tsuge(Socionext) / Tetsuya Hirose(Osaka Univ.) / Takatsugu Ono(Kyushu Univ.) / Junko Takahashi(NTT) |
| 幹事補佐氏名（和） | 新居 浩二(TSMCデザインテクノロジージャパン) / 宮地 幸祐(信州大) / 久保木 猛(九大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Koji Nii(TSMC) / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) / Takeshi Kuboki(Kyushu Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Hardware Security |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 意図的に引き起こされる電磁的情報漏えい評価法の検討 |
| サブタイトル（和） | デジタル出力回路のインピーダンス変化に着目した評価 |
| タイトル（英） | Fundamental Evaluation Method of EM Information Leakage Caused by Intentional Electromagnetic Interference |
| サブタイトル（和） | Impact of Impedance Change in Digital Output Circuits |
| キーワード(1)（和/英） | 電磁的情報漏えい / Electromagnetic Information Leakage |
| キーワード(2)（和/英） | TEMPEST / TEMPEST |
| キーワード(3)（和/英） | 意図的な電磁妨害 / Intentional Electromagnetic Interference |
| キーワード(4)（和/英） | / IEMI |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 鍛治 秀伍 / Shugo Kaji |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 衣川 昌宏 / Masahiro Kinugawa |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 福知山公立大学(略称：福知山公立大) The University of Fukuchiyama(略称：Univ. of Fukuchiyama) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yuichi Hayashi |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 発表年月日 | 2020-10-26 |
| 資料番号 | HWS2020-27,ICD2020-16 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | HWS-211,ICD-212 |
| ページ範囲 | pp.13-17(HWS), pp.13-17(ICD), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2020-10-19 (HWS, ICD) |