| 講演名 | 2020-10-26 半導体チップのハードウェアトロージャンに対する物理レベルの取り組み（Ⅱ） 坂根 広史(産総研), 川村 信一(産総研), 今福 健太郎(産総研), 堀 洋平(産総研), 永田 真(産総研), 林 優一(産総研), 松本 勉(産総研), |
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| 抄録(和) | 情報の窃取や不正改変を目的として半導体チップ上に挿入されるハードウェアトロ—ジャンの脅威が問題となりつつある．本稿では，物理的に与えられたICチップ上のハードウェアトロ—ジャンを検出する諸手法について体系的に整理し，その一つとして光学的な観測解析手法を取り上げる．ICの故障解析技術として発展，利用されてきた光学的解析の諸手法について，本研究で選択し先鋭化した特性を組み合わせることでハードウェアトロ—ジャンの評価検出手法として高度化できることを示す． |
| 抄録(英) | Hardware Trojans, known to be designed and crafted with malicious intent and deployed to be part of the hardware of the victim’s information systems, have become real threats. In this paper, we will discuss IC failure analysis and reverse-engineering techniques as methods and tools for detecting Hardware Trojans in IC chips after production. We will further dive into the optical analysis techniques, which are part of the traditional failure analysis tools. We demonstrate that an efficient and cost-effective realization of Hardware Trojan detection technique can be developed, taking advantage of some optical measurement features. |
| キーワード(和) | ハードウェアトロージャン / 半導体チップ / 物理レベル / 検知 / 光学的解析 |
| キーワード(英) | Hardware Trojan / Semiconductor Chip / Physical Level / Detection / Optical Analysis |
| 資料番号 | HWS2020-35,ICD2020-24 |
| 発行日 | 2020-10-19 (HWS, ICD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD / HWS |
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| 開催期間 | 2020/10/26(から1日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | ハードウェアセキュリティ，一般 |
| テーマ（英） | Hardware Security, etc. |
| 委員長氏名（和） | 永田 真(神戸大) / 池田 誠(東大) |
| 委員長氏名（英） | Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) |
| 副委員長氏名（和） | 高橋 真史(キオクシア) / 島崎 靖久(ルネサスエレクトロニクス) / 永田 真(神戸大) |
| 副委員長氏名（英） | Masafumi Takahashi(masafumi2.takahashi@kioxia.com) / Yasuhisa Shimazaki(Renesas Electronics) / Makoto Nagata(Kobe Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 柘植 政利(ソシオネクスト) / 廣瀬 哲也(阪大) / 小野 貴継(九大) / 高橋 順子(NTT) |
| 幹事氏名（英） | Masatoshi Tsuge(Socionext) / Tetsuya Hirose(Osaka Univ.) / Takatsugu Ono(Kyushu Univ.) / Junko Takahashi(NTT) |
| 幹事補佐氏名（和） | 新居 浩二(TSMCデザインテクノロジージャパン) / 宮地 幸祐(信州大) / 久保木 猛(九大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Koji Nii(TSMC) / Kosuke Miyaji(Shinshu Univ.) / Takeshi Kuboki(Kyushu Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Hardware Security |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 半導体チップのハードウェアトロージャンに対する物理レベルの取り組み（Ⅱ） |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Physical-Level Detection Approach against Hardware Trojans inside Semiconductor Chips (II) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ハードウェアトロージャン / Hardware Trojan |
| キーワード(2)（和/英） | 半導体チップ / Semiconductor Chip |
| キーワード(3)（和/英） | 物理レベル / Physical Level |
| キーワード(4)（和/英） | 検知 / Detection |
| キーワード(5)（和/英） | 光学的解析 / Optical Analysis |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 坂根 広史 / Hirofumi Sakane |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 川村 信一 / Shinichi Kawamura |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 今福 健太郎 / Kentaro Imafuku |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 堀 洋平 / Yohei Hori |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 永田 真 / Makoto Nagata |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yuichi Hayashi |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 松本 勉 / Tsutomu Matsumoto |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 発表年月日 | 2020-10-26 |
| 資料番号 | HWS2020-35,ICD2020-24 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | HWS-211,ICD-212 |
| ページ範囲 | pp.59-64(HWS), pp.59-64(ICD), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2020-10-19 (HWS, ICD) |