| 講演名 | 2020-10-22 従来の試験場で測定ができない機器の放射妨害波測定法に関する一検討 チャカロタイ ジェドヴィスノプ(NICT), 藤井 勝巳(NICT), 山中 幸雄(NICT), 田島 公博(NTT-AT), 三塚 展幸(TELEC), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | EMCJ2020-27,MW2020-41,EST2020-29 |
| 発行日 | 2020-10-15 (EMCJ, MW, EST) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW / EST / EMCJ / IEE-EMC |
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| 開催期間 | 2020/10/22(から2日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | EMC一般/マイクロ波/電磁界シミュレーション |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 古神 義則(宇都宮大) / 大貫 進一郎(日大) / 王 建青(名工大) |
| 委員長氏名（英） | Yoshinori Kogami(Utsunomiya Univ.) / Shinichiro Ohnuki(Nihon Univ.) / Kensei Oh(Nagoya Inst. of Tech.) |
| 副委員長氏名（和） | 河合 正(兵庫県立大) / 大久保 賢祐(岡山県立大) / 新庄 真太郎(三菱電機) / 君島 正幸(アドバンテスト研) / 柴山 純(法政大) / 辻 寧英(室蘭工大) / 西方 敦博(東工大) |
| 副委員長氏名（英） | Tadashi Kawai(Univ. of Hyogo) / Kensuke Okubo(Okayama Prefectural Univ.) / Shintaro Shinjo(Mitsubishi Electric) / Masayuki Kimishima(Advantest) / Jun Shibayama(Hosei Univ.) / Yasuhide Tsuji(Muroran Inst. of Tech.) / Atsuhiro Nishikata(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 幹事氏名（和） | 佐藤 優(富士通研) / 大平 昌敬(埼玉大) / 須賀 良介(青学大) / 毛塚 敦(電子航法研) / 鵜生 高徳(デンソー) / 林 優一(奈良先端大) |
| 幹事氏名（英） | Masaru Sato(Fujitsu Labs.) / Masataka Ohira(Saitama Univ.) / Ryosuke Suga(Aoyama Gakuin Univ.) / Atsushi Kezuka(ENRI) / Takanori Unou(Denso) / Yuichi Hayashi(NAIST) |
| 幹事補佐氏名（和） | 高野 恭弥(東京理科大) / 長谷川 直輝(ソフトバンク) / 石橋 秀則(三菱電機) / 岸本 誠也(日大) / 佐々木 菜実(星和電機) / 志田 浩義(トーキンEMCエンジニアリング) / 室賀 翔(秋田大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Kyoya Takano(Tokyo Univ. of Science) / Naoki Hasegawa(Softbank) / Hidenori Ishibashi(MitsubishiElectric) / Seiya Kishimoto(Nihon Univ.) / Nami Sasaki(Seiwa Electric MFG) / Hiroyoshi Shida(Tokin EMC Engineering) / Sho Muroga(Akita Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Microwaves / Technical Committee on Electronics Simulation Technology / Technical Committee on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Electromagnetic Compatibility |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 従来の試験場で測定ができない機器の放射妨害波測定法に関する一検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Investigation on Measurement Method of Radiated Electromagnetic Disturbance from EUTs Unable to Measure on Conventional Test Site |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | チャカロタイ ジェドヴィスノプ / Jerdvisanop Chakarothai |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構(略称：NICT) NICT(略称：NICT) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 藤井 勝巳 / Katsumi Fujii |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構(略称：NICT) NICT(略称：NICT) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山中 幸雄 / Yukio Yamanaka |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構(略称：NICT) NICT(略称：NICT) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 田島 公博 / Kimihiro Tajima |
| 第 4 著者 所属（和/英） | NTTアドバンステクノロジ株式会社(略称：NTT-AT) NTT Advanced Technology(略称：NTT-AT) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 三塚 展幸 / Nobuyuki Mitsuzuka |
| 第 5 著者 所属（和/英） | テレコムエンジニアリングセンター(略称：TELEC) Telecom Engineering Center(略称：TELEC) |
| 発表年月日 | 2020-10-22 |
| 資料番号 | EMCJ2020-27,MW2020-41,EST2020-29 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | EMCJ-199,MW-200,EST-201 |
| ページ範囲 | pp.14-19(EMCJ), pp.14-19(MW), pp.14-19(EST), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2020-10-15 (EMCJ, MW, EST) |