講演名 2020-09-28
直線集束ビーム超音波材料解析システムによる材料均質性評価のための高速スキャン法
大橋 雄二(東北大), 横田 有為(東北大), 山路 晃広(東北大), 吉野 将生(東北大), 黒澤 俊介(東北大), 鎌田 圭(東北大), 佐藤 浩樹(東北大), 豊田 智史(東北大), 花田 貴(東北大), 吉川 彰(東北大),
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抄録(和) 直線集束ビーム超音波材料解析(LFB-UMC)システムにおいて高速スキャン法を用いた新しい材料均質性評価法を提案し,その実験的検討を行なった.Ca3Ta(Ga0.75Al0.25)3Si2O14[CTGAS]単結晶試料内に存在する組成分布に起因する漏洩弾性表面波(LSAW)速度の変化を従来法のV(z)法と新規提案のV(x)法の両方法で同様に得ることに成功した.V(x)法の測定時間は,従来法のV(z)法に比べ1/56と高速に測定可能であった.測定精度の観点ではV(z)法が優れているが,材料の広い面積に渡る均質性を高速に評価するという観点ではV(x)法に大きなメリットがある.
抄録(英) We proposed and demonstrated a new method for measuring material homogeneity using fast scanning technique with the line-focus-beam ultrasonic-material-characterization (LFB-UMC) system. We could successfully obtain similar velocity profile of leaky surface acoustic wave (LSAW) for a Ca3Ta(Ga0.75Al0.25)3Si2O14[CTGAS] single crystal specimen by both of the new V(x) and the conventional V(z) methods. We have verified the new V(x) method was 56 times faster than the conventional V(z) method. Although the V(z) method is superior to the V(x) method in a viewpoint of measurement accuracy, the V(x) method has great advantage that it is possible to quickly evaluate material homogeneity over the wide area of specimen.
キーワード(和) 直線集束ビーム超音波材料解析(LFB-UMC)システム / 漏洩弾性表面波(LSAW)速度 / V(z)曲線解析法 / 材料均質性評価
キーワード(英) Line-focus-beam ultrasonic material characterization (LFB-UMC) system / Leaky surface acoustic wave (LSAW) velocity / V(z) curve analysis / Measuring material homogeneity
資料番号 US2020-34
発行日 2020-09-21 (US)

研究会情報
研究会 US
開催期間 2020/9/28(から1日開催)
開催地(和) オンライン開催
開催地(英) Web Meeting
テーマ(和) 一般(共催:東北大学電気通信研究所 超音波エレクトロニクス研究会、日本超音波医学会光超音波画像研究会、レーザー学会光音響イメージング技術専門委員会)
テーマ(英)
委員長氏名(和) 三浦 光(日大)
委員長氏名(英) Hikaru Miura(Nihon Univ.)
副委員長氏名(和) 近藤 淳(静岡大) / 小池 義和(芝浦工大)
副委員長氏名(英) Jun Kondo(Shizuoka Univ.) / Yoshikazu Koike(Shibaura Inst. of Tech.)
幹事氏名(和) 小山 大介(同志社大) / 荒川 元孝(東北大)
幹事氏名(英) Daisuke Koyama(Doshisha Univ.) / Mototaka Arakawa(Tohoku Univ.)
幹事補佐氏名(和) 平田 慎之介(東工大)
幹事補佐氏名(英) Shinnosuke Hirata(Tokyo Inst. of Tech.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Ultrasonics
本文の言語 JPN
タイトル(和) 直線集束ビーム超音波材料解析システムによる材料均質性評価のための高速スキャン法
サブタイトル(和)
タイトル(英) Fast Scanning Method for Measuring Material Homogeneity using the Line-Focus-Beam Ultrasonic-Material-Characterization System
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 直線集束ビーム超音波材料解析(LFB-UMC)システム / Line-focus-beam ultrasonic material characterization (LFB-UMC) system
キーワード(2)(和/英) 漏洩弾性表面波(LSAW)速度 / Leaky surface acoustic wave (LSAW) velocity
キーワード(3)(和/英) V(z)曲線解析法 / V(z) curve analysis
キーワード(4)(和/英) 材料均質性評価 / Measuring material homogeneity
第 1 著者 氏名(和/英) 大橋 雄二 / Yuji Ohashi
第 1 著者 所属(和/英) 東北大学(略称:東北大)
Tohoku University(略称:Tohoku Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 横田 有為 / Yuui Yokota
第 2 著者 所属(和/英) 東北大学(略称:東北大)
Tohoku University(略称:Tohoku Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) 山路 晃広 / Akihiro Yamaji
第 3 著者 所属(和/英) 東北大学(略称:東北大)
Tohoku University(略称:Tohoku Univ.)
第 4 著者 氏名(和/英) 吉野 将生 / Masao Yoshino
第 4 著者 所属(和/英) 東北大学(略称:東北大)
Tohoku University(略称:Tohoku Univ.)
第 5 著者 氏名(和/英) 黒澤 俊介 / Shunnsuke Kurosawa
第 5 著者 所属(和/英) 東北大学(略称:東北大)
Tohoku University(略称:Tohoku Univ.)
第 6 著者 氏名(和/英) 鎌田 圭 / Kei Kamada
第 6 著者 所属(和/英) 東北大学(略称:東北大)
Tohoku University(略称:Tohoku Univ.)
第 7 著者 氏名(和/英) 佐藤 浩樹 / Hiroki Sato
第 7 著者 所属(和/英) 東北大学(略称:東北大)
Tohoku University(略称:Tohoku Univ.)
第 8 著者 氏名(和/英) 豊田 智史 / Satoshi Toyoda
第 8 著者 所属(和/英) 東北大学(略称:東北大)
Tohoku University(略称:Tohoku Univ.)
第 9 著者 氏名(和/英) 花田 貴 / Takashi Hanada
第 9 著者 所属(和/英) 東北大学(略称:東北大)
Tohoku University(略称:Tohoku Univ.)
第 10 著者 氏名(和/英) 吉川 彰 / Akira Yoshikawa
第 10 著者 所属(和/英) 東北大学(略称:東北大)
Tohoku University(略称:Tohoku Univ.)
発表年月日 2020-09-28
資料番号 US2020-34
巻番号(vol) vol.120
号番号(no) US-174
ページ範囲 pp.41-44(US),
ページ数 4
発行日 2020-09-21 (US)