| 講演名 | 2020-07-17 RF回路の不完全性を利用した端末識別 中田 大誠(豊橋技科大), 篠田 陵汰(豊橋技科大), 宮路 祐一(豊橋技科大), 上原 秀幸(豊橋技科大), |
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| 抄録(和) | 本稿では，IoTセキュリティ強化のための一手法として，無線機固有の物理的な情報に基づいた端末識別について紹介する．一つは，インパルス応答測定用信号の一つであるLogarithmic-Swept Sine（Log-SS）信号を用いて，電力増幅器による非線形歪を測定，分離して特徴量とすることで識別するものである．11台のソフトウェア無線機を用いて識別精度を評価している．もう一つは，通常の通信用信号のI/Qデータを用いて，周波数オフセットとI/Qインバランスを特徴量として抽出し識別するものである．17台のZigBee端末を用いて識別精度を評価している． |
| 抄録(英) | In this report we introduce device identification based on physical information specific to wireless devices, which is a promising technique for enhancing IoT security. The first method uses nonlinear distortions caused by power amplifiers (PAs) as a feature value using a Logarithmic-Swept Sine wave (Log-SS) signal, which is a signal for measuring impulse response. The other one uses the frequency offset and I/Q imbalance as a feature value extracted from the received I/Q signal. With these methods, we obtained high identification accuracy with 11 software radios or 17 ZigBee devices. |
| キーワード(和) | 端末識別 / IoT / 物理層セキュリティ / 非線形歪 / 周波数オフセット / I/Qインバランス / 機械学習 |
| キーワード(英) | Device identification / IoT / Physical layer security / nonlinear distortion / Frequency offset / I/Q imbalance / Machine learning |
| 資料番号 | CS2020-31 |
| 発行日 | 2020-07-09 (CS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CS |
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| 開催期間 | 2020/7/16(から2日開催) |
| 開催地（和） | りぷら(利尻富士町) |
| 開催地（英） | Ripura(Rishiri Fuji) |
| テーマ（和） | 次世代ネットワーク，アクセスネットワーク，ブロードバンドアクセス方式，電力線通信，無線通信方式，符号化方式，一般 |
| テーマ（英） | Next Generation Networks, Access Networks, Broadband Access, Power Line Communications, Wireless Communication Systems, Coding Systems, etc. |
| 委員長氏名（和） | 寺田 純(NTT) |
| 委員長氏名（英） | Jun Terada(NTT) |
| 副委員長氏名（和） | 梅原 大祐(京都工繊大) |
| 副委員長氏名（英） | Daisuke Umehara(Kyoto Inst. of Tech.) |
| 幹事氏名（和） | 名倉 健一(三菱電機) / 吉田 悠来(NICT) |
| 幹事氏名（英） | Kenichi Nakura(Mitsubishi Electric) / Yuki Yoshida(NICT) |
| 幹事補佐氏名（和） | 斉藤 洋之(OKI) / 山浦 隆博(東芝) |
| 幹事補佐氏名（英） | Hiroyuki Saito(OKI) / Takahiro Yamaura(Toshiba) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Communication Systems |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | RF回路の不完全性を利用した端末識別 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Device identification based on RF circuit imperfections |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 端末識別 / Device identification |
| キーワード(2)（和/英） | IoT / IoT |
| キーワード(3)（和/英） | 物理層セキュリティ / Physical layer security |
| キーワード(4)（和/英） | 非線形歪 / nonlinear distortion |
| キーワード(5)（和/英） | 周波数オフセット / Frequency offset |
| キーワード(6)（和/英） | I/Qインバランス / I/Q imbalance |
| キーワード(7)（和/英） | 機械学習 / Machine learning |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 中田 大誠 / Taisei Nakada |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 豊橋技術科学大学(略称：豊橋技科大) Toyohashi University of Technology(略称：TUT) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 篠田 陵汰 / Ryota Shinoda |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 豊橋技術科学大学(略称：豊橋技科大) Toyohashi University of Technology(略称：TUT) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 宮路 祐一 / Yuichi Miyaji |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 豊橋技術科学大学(略称：豊橋技科大) Toyohashi University of Technology(略称：TUT) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 上原 秀幸 / Hideyuki Uehara |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 豊橋技術科学大学(略称：豊橋技科大) Toyohashi University of Technology(略称：TUT) |
| 発表年月日 | 2020-07-17 |
| 資料番号 | CS2020-31 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | CS-107 |
| ページ範囲 | pp.61-66(CS), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2020-07-09 (CS) |