| 講演名 | 2020-07-02 意図的な電磁妨害時に生ずる情報漏えいの基礎評価 鍛治 秀伍(奈良先端大), 藤本 大介(奈良先端大), 林 優一(奈良先端大), |
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| 抄録(和) | 電磁的情報漏えいの脅威は、機器の動作時に非意図的に放射された電磁波に含まれる機器内部の情報取得に焦点が置かれてきた。これに対し、本稿では、意図的な電磁妨害時に生ずる電磁放射による情報漏えいに着目する。具体的には、入出力デバイスとして広く利用されるUSBキーボードを対象とし、特定周波数の妨害波の印加強度を増加させることにより、キーボード内部で処理される情報を含む漏えい電磁波の放射強度を増大させ、漏えいを制御できることを示す。 |
| 抄録(英) | The threat of electromagnetic (EM) information leakage has been focused on the acquisition of information inside the devices, which is contained in the EM fields emitted unintentionally during the operations of the devices. In contrast, this paper focuses on information leakage caused by EM emission generated by intentional electromagnetic interference. Specifically, this paper focuses on USB keyboards, which are widely used as input/output devices. It is shown that the leakage of information can be controlled by increasing the intensity of the radiated EM fields by increasing the intensity of the disturbance of a specific frequency, which includes the data processed in the keyboard. |
| キーワード(和) | 電磁的情報漏えい / 意図的電磁妨害 |
| キーワード(英) | EM information leakage / Intentional electromagnetic interference |
| 資料番号 | EMCJ2020-15 |
| 発行日 | 2020-06-25 (EMCJ) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
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| 開催期間 | 2020/7/2(から1日開催) |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | 若手研究者発表会 |
| テーマ（英） | Young Scientist Meeting |
| 委員長氏名（和） | 王 建青(名工大) |
| 委員長氏名（英） | Kensei Oh(Nagoya Inst. of Tech.) |
| 副委員長氏名（和） | 西方 敦博(東工大) |
| 副委員長氏名（英） | Atsuhiro Nishikata(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 幹事氏名（和） | 鵜生 高徳(デンソー) / 林 優一(奈良先端大) |
| 幹事氏名（英） | Takanori Unou(Denso) / Yuichi Hayashi(NAIST) |
| 幹事補佐氏名（和） | 佐々木 菜実(星和電機) / 志田 浩義(トーキンEMCエンジニアリング) / 室賀 翔(秋田大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Nami Sasaki(Seiwa Electric MFG) / Hiroyoshi Shida(Tokin EMC Engineering) / Sho Muroga(Akita Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromagnetic Compatibility |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 意図的な電磁妨害時に生ずる情報漏えいの基礎評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fundamental Evaluation of EM Information Leakage Caused by Intentional Electromagnetic Interference |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電磁的情報漏えい / EM information leakage |
| キーワード(2)（和/英） | 意図的電磁妨害 / Intentional electromagnetic interference |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 鍛治 秀伍 / Shugo Kaji |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yuichi Hayashi |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 発表年月日 | 2020-07-02 |
| 資料番号 | EMCJ2020-15 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | EMCJ-83 |
| ページ範囲 | pp.25-28(EMCJ), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2020-06-25 (EMCJ) |