| 講演名 | 2020-07-17 接触抵抗の自動計測システムの製作とその測定結果 吉田 清(日本工大), 澤 孝一郎(日本工大), 鈴木 健司(富士電機機器制御), |
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| 抄録(和) | 本研究では計測制御ソフトLabVIEW(National Instruments社)を用いて電磁コンタクタの連続開閉を行い、電気接点の接触抵抗自動測定システムの製作を行った。また、動作確認のための試験を行った。さらにこのシステムを使用し、DC5V,10mAの条件で100万回の開閉実験を行った。測定では開閉動作を3Hzに設定し、2000回の動作ごとに接触抵抗を10回測定し平均値を求めた。実験では4つの接点を同時に取り付けられる電磁コンタクタを使用した。これに主回路に用いられる単子接点と補助接点として用いられる双子接点を2個ずつ設置した。100万回開閉の実験結果、1つの単子接点を除いた3つの接点の接触抵抗が開閉回数10万回程まで大きく変動していた。10万回を超えたあたりから徐々に変動が小さくなっていき、20万回以降は3つの接点全ての接触抵抗が安定した値となった。 |
| 抄録(英) | In this study, we constructed an automatic measurement system for the contact resistance of electrical contacts. This system used measurement control software LabVIEW (National Instruments). In the experiments, the contact resistance of two types of electrical contacts mounted on the electromagnetic contactor was measured up to one million operations. The electromagnetic contactor has a total of four electrical contacts, two single contacts and two twin contacts. The experimental conditions were as follows: the power supply voltage was constant at 5 V, and the current was set at 10 mA. The open and close operation were set to 3 Hz, and the contact resistance was measured 10 times every 2000 times operation, and the average value was obtained. |
| キーワード(和) | 自動計測 / 接触抵抗 / LabVIEW / 電磁コンタクタ / 電気接点 / 双子接点 / 単子接点 |
| キーワード(英) | Automatic Measurement / Contact Resistance / LabVIEW, / Electromagnetic Contactor / Electrical Contact / Twin Contact / Single Contact |
| 資料番号 | EMD2020-6 |
| 発行日 | 2020-07-10 (EMD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2020/7/17(から1日開催) |
| 開催地（和） | 千歳アルカディア・プラザ １階多目的ホール |
| 開催地（英） | Chitose-Arcadia-Plaza |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 萓野 良樹(電通大) |
| 委員長氏名（英） | Yoshiki Kayano(Univ. of Electro-Comm.) |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | 上野 貴博(日本工大) |
| 幹事氏名（英） | Takahiro Ueno(Nippon Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 林 優一(奈良先端大) / 宮永 和明(富士通コンポーネント) |
| 幹事補佐氏名（英） | Yuichi Hayashi(ＮＡＩＳＴ) / Kazuaki Miyanaga(Fujitsu Component) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromechanical Devices |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 接触抵抗の自動計測システムの製作とその測定結果 |
| サブタイトル（和） | 微小負荷条件における多数回動作時の接触抵抗 |
| タイトル（英） | Production of automatic measurement system for contact resistance and its measurement results |
| サブタイトル（和） | Contact resistance when switching 1 million times under small load condition |
| キーワード(1)（和/英） | 自動計測 / Automatic Measurement |
| キーワード(2)（和/英） | 接触抵抗 / Contact Resistance |
| キーワード(3)（和/英） | LabVIEW / LabVIEW, |
| キーワード(4)（和/英） | 電磁コンタクタ / Electromagnetic Contactor |
| キーワード(5)（和/英） | 電気接点 / Electrical Contact |
| キーワード(6)（和/英） | 双子接点 / Twin Contact |
| キーワード(7)（和/英） | 単子接点 / Single Contact |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 吉田 清 / Kiyoshi Yoshida |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本工業大学(略称：日本工大) Nippon Institute of Technology(略称：NIT) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本工業大学(略称：日本工大) Nippon Institute of Technology(略称：NIT) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 鈴木 健司 / Kenji Suzuki |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 富士電機機器制御㈱(略称：富士電機機器制御) Fuji Electric FA Components & Systems(略称：Fuji FA Comp. & Sys.) |
| 発表年月日 | 2020-07-17 |
| 資料番号 | EMD2020-6 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | EMD-110 |
| ページ範囲 | pp.17-22(EMD), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2020-07-10 (EMD) |