講演名 2020-05-22
ニューラルネットワークとホログラムを用いた凹凸欠陥の識別システム
有馬 秀三朗(北見工大), 杉坂 純一郎(北見工大), 田口 健治(北見工大),
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抄録(和)
抄録(英)
キーワード(和)
キーワード(英)
資料番号 EMT2020-3
発行日 2020-05-15 (EMT)

研究会情報
研究会 EMT / IEE-EMT
開催期間 2020/5/22(から1日開催)
開催地(和) 東京都立大学 秋葉原サテライトキャンパス
開催地(英) Tokyo Metropolitan Univ., Akihabara Satellite Campus
テーマ(和) 電磁界理論一般
テーマ(英) Electromagnetic Theory, etc.
委員長氏名(和) 平山 浩一(北見工大) / 後藤 啓次(防衛大)
委員長氏名(英) Koichi Hirayama(Kitami Inst. of Tech.) / Keiji Goto(National Defense Academy)
副委員長氏名(和) 出口 博之(同志社大)
副委員長氏名(英) Hiroyuki Deguchi(Doshisha Univ.)
幹事氏名(和) 渡辺 仰基(福岡工大) / 鈴木 敬久(首都大東京) / 阪本 卓也(京大) / 黒木 啓之(都立産技高専)
幹事氏名(英) Koki Watanabe(Fukuoka Inst.of Tech.) / Yukihisa Suzuki(Tokyo Metropolitan Univ.) / Takuya Sakamoto(Kyoto Univ.) / Takashi Kuroki(Tokyo Metro. Coll. of Tech.)
幹事補佐氏名(和) 杉坂 純一郎(北見工大) / 松岡 剛志(九州産大)
幹事補佐氏名(英) Junichiro Sugisaka(Kitami Inst. of Tech.) / Tsuyoshi Matsuoka(Kyushu Sangyo Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Electromagnetic Theory / Technical Meeting on Electromagnetic Theory
本文の言語 JPN
タイトル(和) ニューラルネットワークとホログラムを用いた凹凸欠陥の識別システム
サブタイトル(和) 欠陥幅に依らない識別システムへの拡張
タイトル(英) Concave-convex discrimination of surface defect using neural network and holograms
サブタイトル(和) Extension to discrimination independent of defect width
キーワード(1)(和/英)
第 1 著者 氏名(和/英) 有馬 秀三朗 / Shusaburo Arima
第 1 著者 所属(和/英) 北見工業大学(略称:北見工大)
Kitami Institute of Technology(略称:Kitami Inst. Tech.)
第 2 著者 氏名(和/英) 杉坂 純一郎 / Jun-ichiro Sugisaka
第 2 著者 所属(和/英) 北見工業大学(略称:北見工大)
Kitami Institute of Technology(略称:Kitami Inst. Tech.)
第 3 著者 氏名(和/英) 田口 健治 / Kenji Taguchi
第 3 著者 所属(和/英) 北見工業大学(略称:北見工大)
Kitami Institute of Technology(略称:Kitami Inst. Tech.)
発表年月日 2020-05-22
資料番号 EMT2020-3
巻番号(vol) vol.120
号番号(no) EMT-33
ページ範囲 pp.13-18(EMT),
ページ数 6
発行日 2020-05-15 (EMT)