| 講演名 | 2020-03-07 Non-IID PUFのエントロピー低下要因とエントロピー見積もり手法 (2) 汐﨑 充(立命館大), 堀 洋平(産総研), 大倉 俊介(立命館大), 白畑 正芳(立命館大), 藤野 毅(立命館大), |
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| 抄録(和) | Physically Unclonable Function (PUF)の国際標準化が現在進められており，PUFの評価項目や評価手順に関する議論が進められている．PUFの性能評価指標の１つに最小エントロピーがあるが，PUFレスポンスがNon-IIDである場合のエントロピーを見積もった研究は数少ない．(1)の報告でエントロピー低下の要因を３種類に分類した．本論ではレスポンスがNon-IIDとなる要因の１つであるマルチソースによってエントロピーが低下した時に，最小エントロピーをどのように評価すべきかをCMOS image sensor with a PUF (CIS PUF)を用いて検討した結果について報告する． |
| 抄録(英) | Recently, evaluation items and evaluation schemes of Physically Unclonable Functions (PUFs) are discussed in international standardization activities. When PUFs are applied to applications such as key generation, min-entropy estimation is essential. However, few studies have focused on non-independent and identically distributed (IID) PUFs. In this paper, we propose a method to estimate the entropy of the multiple sources, which is one of the entropy-loss causes and makes responses non-IID. The min-entropy of our CMOS image sensor with a PUF (CIS PUF) is estimated as a case study. In addition, when the pairwise comparison is applied to our CIS PUF, we discuss how much entropy our CIS PUF has. |
| キーワード(和) | Physically Unclonable Function (PUF) / 最小エントロピー / CMOS image sensor with a PUF (CIS PUF) |
| キーワード(英) | Physically Unclonable Function (PUF) / Min-Entropy / CMOS image sensor with a PUF (CIS PUF) |
| 資料番号 | VLD2019-139,HWS2019-112 |
| 発行日 | 2020-02-26 (VLD, HWS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS / VLD |
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| 開催期間 | 2020/3/4(から4日開催) |
| 開催地（和） | 沖縄県青年会館 |
| 開催地（英） | Okinawa Ken Seinen Kaikan |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 |
| テーマ（英） | Design Technology for System-on-Silicon, Hardware Security, etc. |
| 委員長氏名（和） | 川村 信一(東芝) / 戸川 望(早大) |
| 委員長氏名（英） | Shinichi Kawamura(Toshiba) / Nozomu Togawa(Waseda Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 池田 誠(東大) / 島崎 靖久(ルネサスエレクトロニクス) / 福田 大輔(富士通研) |
| 副委員長氏名（英） | Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) / Yasuhisa Shimazaki(Renesas Electronics) / Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) |
| 幹事氏名（和） | 国井 裕樹(セコム) / 小野 貴継(九大) / 小平 行秀(会津大) / 桜井 祐市(日立) |
| 幹事氏名（英） | Hiroki Kunii(SECOM) / Takatsugu Ono(Kyushu Univ.) / Yukihide Kohira(Univ. of Aizu) / Yuichi Sakurai(Hitachi) |
| 幹事補佐氏名（和） | / 池田 一樹(日立) |
| 幹事補佐氏名（英） | / Kazuki Ikeda(Hitachi) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Hardware Security / Technical Committee on VLSI Design Technologies |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | Non-IID PUFのエントロピー低下要因とエントロピー見積もり手法 (2) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Causes of Entropy Loss on Non-IID PUFs and their Entropy Estimations (2) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | Physically Unclonable Function (PUF) / Physically Unclonable Function (PUF) |
| キーワード(2)（和/英） | 最小エントロピー / Min-Entropy |
| キーワード(3)（和/英） | CMOS image sensor with a PUF (CIS PUF) / CMOS image sensor with a PUF (CIS PUF) |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 汐﨑 充 / Mitsuru Shiozaki |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 立命館大学(略称：立命館大) Ritsumeikan University(略称：Ritsumeikan Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 堀 洋平 / Yohei Hori |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 大倉 俊介 / Shunsuke Okura |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 立命館大学(略称：立命館大) Ritsumeikan University(略称：Ritsumeikan Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 白畑 正芳 / Masayoshi Shirahata |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 立命館大学(略称：立命館大) Ritsumeikan University(略称：Ritsumeikan Univ.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 藤野 毅 / Takeshi Fujino |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 立命館大学(略称：立命館大) Ritsumeikan University(略称：Ritsumeikan Univ.) |
| 発表年月日 | 2020-03-07 |
| 資料番号 | VLD2019-139,HWS2019-112 |
| 巻番号（vol） | vol.119 |
| 号番号（no） | VLD-443,HWS-444 |
| ページ範囲 | pp.263-268(VLD), pp.263-268(HWS), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2020-02-26 (VLD, HWS) |