講演名 | 2020-03-05 乱数化関数を用いた乱数生成回路を共有するストカスティック数生成器 多和田 雅師(早大), 戸川 望(早大), |
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抄録(和) | ストカスティック演算は回路と消費電力が小さい利点が注目されている. 一方で2進数からストカスティック数への変換のストカスティック数生成器のオーバヘッドが大きく, 利点を打ち消してしまう欠点となっていた. ストカスティック数生成器が必要とする乱数生成回路を共有することでオーバヘッドを抑える手法が存在する. 乱数生成器の共有によって作成できるストカスティック数の個数は少なく, 適用できるアプリケーションがマルチプレクサツリーを持つものに限られていた. 本稿では乱数化関数を用いて乱数生成器から複数の疑似乱数列を生成し, 生成可能な乱数を増やす. 特に乱数化関数として線形帰還シフトレジスタの状態更新関数を用いて, 生成した疑似乱数の相関性を確認する. |
抄録(英) | N/A |
キーワード(和) | ストカスティック演算 / ストカスティック数 / ストカスティック数生成器 |
キーワード(英) | |
資料番号 | VLD2019-122,HWS2019-95 |
発行日 | 2020-02-26 (VLD, HWS) |
研究会情報 | |
研究会 | HWS / VLD |
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開催期間 | 2020/3/4(から4日開催) |
開催地(和) | 沖縄県青年会館 |
開催地(英) | Okinawa Ken Seinen Kaikan |
テーマ(和) | システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 |
テーマ(英) | Design Technology for System-on-Silicon, Hardware Security, etc. |
委員長氏名(和) | 川村 信一(東芝) / 戸川 望(早大) |
委員長氏名(英) | Shinichi Kawamura(Toshiba) / Nozomu Togawa(Waseda Univ.) |
副委員長氏名(和) | 池田 誠(東大) / 島崎 靖久(ルネサスエレクトロニクス) / 福田 大輔(富士通研) |
副委員長氏名(英) | Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) / Yasuhisa Shimazaki(Renesas Electronics) / Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) |
幹事氏名(和) | 国井 裕樹(セコム) / 小野 貴継(九大) / 小平 行秀(会津大) / 桜井 祐市(日立) |
幹事氏名(英) | Hiroki Kunii(SECOM) / Takatsugu Ono(Kyushu Univ.) / Yukihide Kohira(Univ. of Aizu) / Yuichi Sakurai(Hitachi) |
幹事補佐氏名(和) | / 池田 一樹(日立) |
幹事補佐氏名(英) | / Kazuki Ikeda(Hitachi) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on Hardware Security / Technical Committee on VLSI Design Technologies |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 乱数化関数を用いた乱数生成回路を共有するストカスティック数生成器 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | NA |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | ストカスティック演算 |
キーワード(2)(和/英) | ストカスティック数 |
キーワード(3)(和/英) | ストカスティック数生成器 |
第 1 著者 氏名(和/英) | 多和田 雅師 / Masashi Tawada |
第 1 著者 所属(和/英) | 早稲田大学(略称:早大) Waseda University(略称:Waseda Univ.) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 戸川 望 / Nozomu Togawa |
第 2 著者 所属(和/英) | 早稲田大学(略称:早大) Waseda University(略称:Waseda Univ.) |
発表年月日 | 2020-03-05 |
資料番号 | VLD2019-122,HWS2019-95 |
巻番号(vol) | vol.119 |
号番号(no) | VLD-443,HWS-444 |
ページ範囲 | pp.163-166(VLD), pp.163-166(HWS), |
ページ数 | 4 |
発行日 | 2020-02-26 (VLD, HWS) |